一种带叶栅结构的轴系扭振阻尼效应的测试装置及方法

    公开(公告)号:CN105424334A

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201510750403.2

    申请日:2015-11-06

    CPC classification number: G01M13/00 G01H11/06

    Abstract: 本发明提供了一种带叶栅结构的轴系扭振阻尼效应的测试装置,包括基座,基座上设有转轴支座,转轴一端设于转轴支座上,转轴另一端设有扭振扰动部件,汽缸设于转轴中部,汽缸两侧分别设有第一惯性轮盘、第二惯性轮盘,测量模块设于扭振扰动部件、汽缸之间;扭振扰动部件包括设于转轴上的扰动部件支座,扭矩手轮同轴设于扰动部件支座前侧,扰动部件支座上设有卡块;测量模块包括传感器支架和伸出块;传感器支架设于基座上,用于安装电涡流位移传感器;伸出块同轴设于转轴上,作为电涡流位移传感器测量的基准。本发明还提供了一种带叶栅结构的轴系扭振阻尼效应的测试方法,可以研究不同叶片结构、不同流体工况对轴系扭振的阻尼效应。

    一种带叶栅结构的轴系扭振阻尼效应的测试装置及方法

    公开(公告)号:CN105424334B

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201510750403.2

    申请日:2015-11-06

    Abstract: 本发明提供了一种带叶栅结构的轴系扭振阻尼效应的测试装置,包括基座,基座上设有转轴支座,转轴一端设于转轴支座上,转轴另一端设有扭振扰动部件,汽缸设于转轴中部,汽缸两侧分别设有第一惯性轮盘、第二惯性轮盘,测量模块设于扭振扰动部件、汽缸之间;扭振扰动部件包括设于转轴上的扰动部件支座,扭矩手轮同轴设于扰动部件支座前侧,扰动部件支座上设有卡块;测量模块包括传感器支架和伸出块;传感器支架设于基座上,用于安装电涡流位移传感器;伸出块同轴设于转轴上,作为电涡流位移传感器测量的基准。本发明还提供了一种带叶栅结构的轴系扭振阻尼效应的测试方法,可以研究不同叶片结构、不同流体工况对轴系扭振的阻尼效应。

Patent Agency Ranking