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发明公开
一种基于DEMATEL的改进FMEA方法审中-实审

公开(公告)号：CN116595781A

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN202310589255.5

申请日：2023-05-19

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 邱浩波 , 万谛 , 李明宇 , 许丹阳 , 高亮 , 尚洁

IPC: G06F30/20 , G06F119/02

Abstract: 本发明属于可靠性分析相关技术领域，其公开了一种基于DEMATEL的改进FMEA方法，包括：明确风险评估对象、故障模式以及风险因素，确定故障模式与风险因素的对应事件以及不同风险因素之间的关联事件；根据对对应事件的评估结果获取风险因素对故障模式的影响矩阵，根据对关联事件的评估结果获取风险因素的关联矩阵；然后基于两个矩阵获取初始直接关联矩阵，输入DEMATEL中计算获得故障模式和风险因素分别的排序结果。本发明深入研究风险因素与故障模式间的复杂关系以及风险因素间的关联性，运用DEMATEL对故障模式和风险因素进行排序，得到的结果更加合理、准确，使得故障模式与影响分析更加实用可靠。

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