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公开(公告)号:CN112301346A
公开(公告)日:2021-02-02
申请号:CN202011191614.4
申请日:2018-07-24
Applicant: 千住金属工业株式会社 , 国立大学法人大阪大学
Abstract: 本发明涉及铜银合金的合成方法、导通部的形成方法、铜银合金、以及导通部。本发明提供:可以低温且短时间地简单地合成铜银合金的铜银合金的合成方法、及导通部的形成方法、及铜银合金、及导通部。本发明具备如下工序:墨调制工序,将铜盐颗粒、胺系溶剂、及银盐颗粒混合从而调制铜银墨;涂布工序,将铜银墨涂布于被涂布构件;晶核生成工序,由铜银墨生成晶体粒径为0.2μm以下的铜的晶核及晶体粒径为0.2μm以下的银的晶核中的至少一者;以及,晶核合成工序,合成铜的晶核及前述银的晶核。
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公开(公告)号:CN111032912A
公开(公告)日:2020-04-17
申请号:CN201880049672.8
申请日:2018-07-24
Applicant: 千住金属工业株式会社 , 国立大学法人大阪大学
Abstract: 提供:可以低温且短时间地简单地合成铜银合金的铜银合金的合成方法、及导通部的形成方法、及铜银合金、及导通部。本发明具备如下工序:墨调制工序,将铜盐颗粒、胺系溶剂、及银盐颗粒混合从而调制铜银墨;涂布工序,将铜银墨涂布于被涂布构件;晶核生成工序,由铜银墨生成晶体粒径为0.2μm以下的铜的晶核及晶体粒径为0.2μm以下的银的晶核中的至少一者;以及,晶核合成工序,合成铜的晶核及前述银的晶核。
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公开(公告)号:CN103501959B
公开(公告)日:2016-03-16
申请号:CN201280020363.0
申请日:2012-02-27
Applicant: 千住金属工业株式会社
Inventor: H·J·阿尔布雷希特 , K·维尔克 , 菅沼克昭 , 上岛稔
CPC classification number: B23K35/262 , B23K35/0244 , C22C1/02 , C22C13/00 , C22C13/02 , H01L2224/48247 , H01L2224/73265 , H05K1/0263 , H05K3/3463 , Y10T403/479
Abstract: 本发明涉及焊料接头,其是用于功率器件等的、能够耐受高电流密度而不发生电迁移的焊料接头,所述焊料接头由Sn-Ag-Bi-In系合金形成。该焊料接头是利用本质上由2~4质量%的Ag、2~4质量%的Bi、2~5质量%的In、余量的Sn组成的焊料合金形成的。该焊料合金还可以含有Ni、Co和Fe中的一种以上。
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公开(公告)号:CN111032912B
公开(公告)日:2021-03-09
申请号:CN201880049672.8
申请日:2018-07-24
Applicant: 千住金属工业株式会社 , 国立大学法人大阪大学
Abstract: 提供:可以低温且短时间地简单地合成铜银合金的铜银合金的合成方法、及导通部的形成方法、及铜银合金、及导通部。本发明具备如下工序:墨调制工序,将铜盐颗粒、胺系溶剂、及银盐颗粒混合从而调制铜银墨;涂布工序,将铜银墨涂布于被涂布构件;晶核生成工序,由铜银墨生成晶体粒径为0.2μm以下的铜的晶核及晶体粒径为0.2μm以下的银的晶核中的至少一者;以及,晶核合成工序,合成铜的晶核及前述银的晶核。
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公开(公告)号:CN112301346B
公开(公告)日:2023-02-28
申请号:CN202011191614.4
申请日:2018-07-24
Applicant: 千住金属工业株式会社 , 国立大学法人大阪大学
Abstract: 本发明涉及铜银合金的合成方法、导通部的形成方法、铜银合金、以及导通部。本发明提供:可以低温且短时间地简单地合成铜银合金的铜银合金的合成方法、及导通部的形成方法、及铜银合金、及导通部。本发明具备如下工序:墨调制工序,将铜盐颗粒、胺系溶剂、及银盐颗粒混合从而调制铜银墨;涂布工序,将铜银墨涂布于被涂布构件;晶核生成工序,由铜银墨生成晶体粒径为0.2μm以下的铜的晶核及晶体粒径为0.2μm以下的银的晶核中的至少一者;以及,晶核合成工序,合成铜的晶核及前述银的晶核。
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公开(公告)号:CN103501959A
公开(公告)日:2014-01-08
申请号:CN201280020363.0
申请日:2012-02-27
Applicant: 千住金属工业株式会社
Inventor: H·J·阿尔布雷希特 , K·维尔克 , 菅沼克昭 , 上岛稔
CPC classification number: B23K35/262 , B23K35/0244 , C22C1/02 , C22C13/00 , C22C13/02 , H01L2224/48247 , H01L2224/73265 , H05K1/0263 , H05K3/3463 , Y10T403/479
Abstract: 本发明涉及焊料接头,其是用于功率器件等的、能够耐受高电流密度而不发生电迁移的焊料接头,所述焊料接头由Sn-Ag-Bi-In系合金形成。该焊料接头是利用本质上由2~4质量%的Ag、2~4质量%的Bi、2~5质量%的In、余量的Sn组成的焊料合金形成的。该焊料合金还可以含有Ni、Co和Fe中的一种以上。
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