TDC装置、测距装置以及校正方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117321452A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202280035654.0

    申请日:2022-05-11

    Abstract: TDC装置(101)具备:TDC电路(1),具有延迟电路及多个存储元件,所述延迟电路包括使测量信号依次延迟的多级延迟元件,所述多个存储元件与多级延迟元件对应地设置,并响应于所输入的测量时钟而保持多级延迟元件的输出;边缘检测部(2),基于多个存储元件的输出的切换,对检测出测量信号的至少上升沿的延迟元件的检测级进行检测;以及延迟量校正部(4),通过将与延迟元件的检测级和多个延迟元件的延迟量相关的延迟变换表中的检测级所对应的延迟量和校正延迟量相加相减,从而输出校正了延迟量的测量信号的延迟时间。

    TDC装置、测距装置以及测距方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117355770A

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202280035678.6

    申请日:2022-05-11

    Abstract: TDC装置(50)具有:TDC电路(2),其具有包含使测量信号依次延迟的多级的延迟元件的延迟电路、和与多级的延迟元件对应设置且响应于所输入的测量时钟来保持多级的延迟元件的输出的多个存储元件;边缘检测部(3),其基于多个存储元件的输出的切换来对检测到测量信号的至少上升沿的延迟元件的检测级进行检测;时间运算部(5),其基于延迟元件的检测级、和与多个延迟元件的延迟量相关的延迟变换表来输出测量信号的延迟时间;和延迟部(1),其使所输入的测量信号延迟地输入到TDC电路(2)的延迟电路。

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