用多尺度超像素融合检测RGB-D单幅图像阴影的方法

    公开(公告)号:CN114445649A

    公开(公告)日:2022-05-06

    申请号:CN202111199149.3

    申请日:2021-10-14

    Abstract: 本发明涉及一种图像阴影检测方法,尤其为一种用多尺度超像素融合检测RGB‑D单幅图像阴影的方法,包括融合获得超像素阴影置信度。在阴影数据集上选取若干组数据进行训练,每一组数据包括一幅阴影图像和该图像对应的阴影模板,本发明提出了多尺度超像素融合阴影检测算法,采用全局窗口计算阴影置信度,解决了现有技术中算法检测窗口尺寸难以给出准确估计的问题,阴影检测精度和运算速度均得到大幅度提升。本发明算法对于边缘不清晰的软阴影、复杂场景阴影、大面积阴影以及小块阴影的检测均表现出很好的性能,与相关算法的对比实验体现出综合优势。适合在实时性要求不高的场景下对光线复杂环境图像进行前期预处理。

Patent Agency Ranking