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发明公开
调试端口控制电路审中-实审

公开(公告)号：CN118251673A

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN202280071893.1

申请日：2022-08-22

Applicant: 北欧半导体公司

Inventor： 比约纳·赫内斯 , 贝伦德·德肯斯 , 哈康·普雷斯特加德 , 汉努·科维兰塔

IPC: G06F21/75 , G06F21/57

Abstract: 一种集成电路器件(1)，包括非易失性存储器(NVM)(15)、调试端口(21)和用于控制通过调试端口(21)对集成电路器件的访问的调试端口控制电路(17)。调试端口控制电路(17)被配置为：在单个读取周期中从NVM(15)中的相应预定位置读取第一比特位阵列和第二比特位阵列。第二比特位阵列不同于第一比特位阵列，并且至少第二比特数阵列包含多个比特位。调试端口控制电路(17)还被配置为：确定第一比特位阵列是否具有第一预定比特位图案以及第二比特位阵列是否具有不同于第二预定比特位图案的图案；以及至少部分地根据所述确定来控制通过调试端口(21)的访问。

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