一种重包装膜用开口助挤出母料及其制备方法

    公开(公告)号:CN117659555A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202311415983.0

    申请日:2023-10-30

    Abstract: 本发明涉及高分子化合物技术领域,具体公开一种重包装膜用开口助挤出母料及其制备方法。重包装膜用开口助挤出母料包括以下质量份组分:线性低密度聚乙烯LLDPE90‑100份,开口剂20‑50份,含氟助加工助剂PPA4.5‑9.5份,分散剂2‑12份,偶联剂0.5‑2份,润滑剂0.2‑1份,爽滑剂0.05‑0.2份,抗氧剂0.5‑1.2份。本发明提供的重包装膜用开口助挤出母料具有良好的应用效果,其中的二氧化硅开口剂组分可在薄膜表面形成微观凸起,减少薄膜间的接触面积,防止形成真空闭合,配合爽滑分散成分,可极大的降低薄膜间的粘连力,促使薄膜易于开口;含氟助加工助剂PPA具有降低熔体表观粘度,消除或减少口模积料,防止熔体破裂,改善薄膜表面质量,提高生产效率,降低加工能耗。

    一种降低ABS不良品发生率的方法

    公开(公告)号:CN112706431B

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202011453494.0

    申请日:2020-12-09

    Abstract: 本发明涉及一种评价方法及控制晶点的措施,特别是涉及一种降低ABS不良品发生率的方法。该方法通过晶点扫描光学处理统计软件自动记录单位圆面积的晶点尺寸等级数量,采用成型工艺将ABS样品做成ABS成品2‑100件,观察每组ABS成品是否满足晶点要求,最后确定每组产品的不良产品率,选择不良品率最小的一组ABS样品,其晶点尺寸等级和对应的晶点数量确定为晶点控制指标,绘制不同单位圆面积的晶点尺寸等级数量与过滤器压差的关系曲线,选取曲线最低点对应的过滤器压差为最佳过滤器压差值,并确定最佳压差范围。本发明不仅提高了晶点测试的准确度,能够在不影响生产装置及原料供给情况下,保证下游加工对晶点的要求,极大降低了不良品的发生率,具有长期适用性。

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