光耦传输比自动测试装置和系统

    公开(公告)号:CN106873436B

    公开(公告)日:2020-03-24

    申请号:CN201510917232.8

    申请日:2015-12-10

    Abstract: 本发明公开一种光耦传输比自动测试装置和系统。装置包括:与光耦合器相连接,为光耦合器提供输入电压信号的可控电源;与可控电源相连接,调节可控电源输出电压信号的PWM波滤波电路;与光耦合器相连接,采集光耦合器的初级和次级电流信号,将初级和次级电流信号转换为初级和次级电压信号的电流信号转换电路;与电流信号转换电路相连接,将初级和次级电压信号由模拟信号转换为数字信号的模数转换电路;与PWM波滤波电路和模数转换电路相连接,持续调整PWM波的占空比,直至初级和次级电压信号满足预设测试条件时,计算光耦合器光耦传输比的主控芯片。本发明提供的技术方案,能够准确的测试光耦合器的光耦传输比。

    光耦传输比自动测试装置和系统

    公开(公告)号:CN106873436A

    公开(公告)日:2017-06-20

    申请号:CN201510917232.8

    申请日:2015-12-10

    Abstract: 本发明公开一种光耦传输比自动测试装置和系统。装置包括:与光耦合器相连接,为光耦合器提供输入电压信号的可控电源;与可控电源相连接,调节可控电源输出电压信号的PWM波滤波电路;与光耦合器相连接,采集光耦合器的初级和次级电流信号,将初级和次级电流信号转换为初级和次级电压信号的电流信号转换电路;与电流信号转换电路相连接,将初级和次级电压信号由模拟信号转换为数字信号的模数转换电路;与PWM波滤波电路和模数转换电路相连接,持续调整PWM波的占空比,直至初级和次级电压信号满足预设测试条件时,计算光耦合器光耦传输比的主控芯片。本发明提供的技术方案,能够准确的测试光耦合器的光耦传输比。

    光耦传输比自动测试装置和系统

    公开(公告)号:CN205210610U

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201521029496.1

    申请日:2015-12-10

    Abstract: 本实用新型公开一种光耦传输比自动测试装置和系统。装置包括:与光耦合器相连接,为光耦合器提供输入电压信号的可控电源;与可控电源相连接,调节可控电源输出电压信号的PWM波滤波电路;与光耦合器相连接,采集光耦合器的初级和次级电流信号,将初级和次级电流信号转换为初级和次级电压信号的电流信号转换电路;与电流信号转换电路相连接,将初级和次级电压信号由模拟信号转换为数字信号的模数转换电路;与PWM波滤波电路和模数转换电路相连接,持续调整PWM波的占空比,直至初级和次级电压信号满足预设测试条件时,计算光耦合器光耦传输比的主控芯片。本实用新型提供的技术方案,能够准确的测试光耦合器的光耦传输比。

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