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公开(公告)号：CN103163058A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201310096202.6
申请日：2013-03-25
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01N15/08
Abstract: 本发明涉及一种利用亚硫酸蒸汽测定镍基底银镀层孔隙率的方法。镀银触点表面的微孔率是表征镀层质量的重要指标，它表明了镀层对基体防护作用的优劣程度，应作为评判镀层质量的最主要指标之一。目前国内外银镀层的工艺、材料加工仍然存在一些问题，使银镀层表面出现微孔较多，现存的孔隙率测试方法大都基于物理、化学和电化学的原理，或者由于反应过于剧烈，微孔蔓延，或者由于反应不足，微孔暴露不充分，存在一定缺陷，为了克服现有的银镀层孔隙率检测方法的不足,本发明提供一种检测方法，本发明采用亚硫酸蒸汽熏蒸法，方便快捷，能够快速准确检测镍基底银镀层的微孔率。
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