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公开(公告)号：CN104655172B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201510036111.2
申请日：2015-01-23
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01D21/00
Abstract: 本发明公开了一种小型尘土颗粒筛选扬撒装置，包括尘土筛选和扬撒积尘模块。其中，尘土筛选模块又包括电机、偏心轮、双层筛网模块等。尘土扬撒积尘模块又包括尘土导出管、扬撒积尘容器、称重模块等。向尘土容器加入尘土，在控制器中设定所需积尘重量，启动电机带动偏心块做圆周运动，在基座上不等高的两对弹簧作用下，尘土容器在竖直方向上做往复振动，同时左右摆动。通过双层尘土筛网，实现限定尺寸范围的尘土的筛选。控制吹风机将筛出的尘土通过导出管吹入尘土扬撒积尘容器，均匀沉积到样品上，直到尘土重量达到设定值为止。应用本发明能够对尘土颗粒度进行筛选，实现尘土扬撒的自动控制，有效提高了尘土颗粒的一致性、样品积尘的分布均匀性。
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公开(公告)号：CN112462146A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN202011299515.8
申请日：2020-11-18
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明提供了一种电极材料抵抗电化学迁移绝缘失效的盐液滴检测方法。选取0.1～3mmol/lNaCl或0.1～0.8mmol/lNa2SO4溶液，对多种电极材料在可溶性盐污染下抵抗电化学迁移绝缘失效能力进行检测，包括以下步骤：一，样品准备。样品清洗烘干；配制一定浓度的NaCl或Na2SO4溶液。二，试验环境准备。包括：样品接入测试系统；设置偏置电压和测量参数。三，进行实验。包括：开启视频录像；滴加液滴；启动实验系统；实验持续到绝缘电阻失效后120s。四，数据处理和分析。对电路板失效现象进行形貌分析；提取特征寿命，进行抗绝缘失效能力评判。本发明中提供的测试方法简单高效，实验原理符合实际应用情况。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104345094A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201410612113.7
申请日：2014-11-04
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01N29/09
Abstract: 本发明公开了一种对手机防尘网抗污染能力的评估方法，属于工程材料技术领域。所述评估方法首先建立评估方案，通过对待评估手机防尘网进行结构参数和涂层参数分析，建立防尘网参数评估方案，根据待评估样品的具体特性参数，确定实验对比组和实验所需样品数；其次实施污染模拟实验，包括油雾挥发沉积实验和油脂涂覆粘接实验；最后通过声阻检测评定抗污染能力。本评估方法基于污染物沉积原理，针对具体防尘网参数，可以准确有效地建立防尘网抗污染能力的评估体系。
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公开(公告)号：CN102914492A
公开(公告)日：2013-02-06
申请号：CN201210397811.0
申请日：2012-10-18
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01N15/08
Abstract: 本发明涉及一种利用亚硫酸溶液测定贵金属镀层孔隙率的方法。镀金触点表面的微孔率是表征镀层质量的重要指标，它表明了镀层对基体防护作用的优劣程度，应作为评判镀层质量的最主要指标。目前国内外贵金属镀层表面出现微孔较多，传统的贵金属镀层孔隙率检测通常采用强酸介质如硫酸或硝酸蒸汽等腐蚀实验来进行检测，这种方法的特点是需要大量腐蚀试剂，腐蚀时间长，而且腐蚀后的贵金属镀层表面覆盖有大量腐蚀生成物，给孔隙率的测试造成困难，容易造成错误判断。为了克服现有的贵金属镀层孔隙率检测方法的不足,本发明提供一种检测方法，本发明采用KMnO4和SO2溶液量比较小，对环境产生的损害小；测试方法简单，迅速，快捷；该方法可以精确的检测出贵金属镀层的微孔率。
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公开(公告)号：CN104655172A
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201510036111.2
申请日：2015-01-23
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01D21/00
Abstract: 本发明公开了一种小型尘土颗粒筛选扬撒装置，包括尘土筛选和扬撒积尘模块。其中，尘土筛选模块又包括电机、偏心轮、双层筛网模块等。尘土扬撒积尘模块又包括尘土导出管、扬撒积尘容器、称重模块等。向尘土容器加入尘土，在控制器中设定所需积尘重量，启动电机带动偏心块做圆周运动，在基座上不等高的两对弹簧作用下，尘土容器在竖直方向上做往复振动，同时左右摆动。通过双层尘土筛网，实现限定尺寸范围的尘土的筛选。控制吹风机将筛出的尘土通过导出管吹入尘土扬撒积尘容器，均匀沉积到样品上，直到尘土重量达到设定值为止。应用本发明能够对尘土颗粒度进行筛选，实现尘土扬撒的自动控制，有效提高了尘土颗粒的一致性、样品积尘的分布均匀性。
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公开(公告)号：CN102262046B
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201110101719.0
申请日：2011-04-22
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明公开了连接器使用寿命的测试系统及测试方法，该装置能实现连接器使用寿命及插拔力的测试。其包含机械单元、人机交互单元、运动控制单元、插拔力测试单元。进行插拔测试时，预先通过人机交互单元设定运动参数及控制指令信息，控制单元按照设定信息控制机械单元运转。机械单元在插拔运动中，运动控制单元接受接近开关的反馈检测信号，控制机械单元旋转运动部分；进行插拔力测试时，插拔力测试单元将采样信号输出至人机交互单元进行数据存储、处理和图形显示。应用本发明能够根据测试需要对相关参数自行设定，满足不同连接器的插拔寿命测试需求。
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公开(公告)号：CN103163058A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201310096202.6
申请日：2013-03-25
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01N15/08
Abstract: 本发明涉及一种利用亚硫酸蒸汽测定镍基底银镀层孔隙率的方法。镀银触点表面的微孔率是表征镀层质量的重要指标，它表明了镀层对基体防护作用的优劣程度，应作为评判镀层质量的最主要指标之一。目前国内外银镀层的工艺、材料加工仍然存在一些问题，使银镀层表面出现微孔较多，现存的孔隙率测试方法大都基于物理、化学和电化学的原理，或者由于反应过于剧烈，微孔蔓延，或者由于反应不足，微孔暴露不充分，存在一定缺陷，为了克服现有的银镀层孔隙率检测方法的不足,本发明提供一种检测方法，本发明采用亚硫酸蒸汽熏蒸法，方便快捷，能够快速准确检测镍基底银镀层的微孔率。
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