公开(公告)号：CN118368003A

公开(公告)日：2024-07-19

申请号：CN202410281299.6

申请日：2024-03-12

Applicant: 北京遥感设备研究所

Inventor： 戴瀛 ,  雷越舒 ,  童雨 ,  张前南 ,  武晓阳

IPC: H04B17/17 ,  H04B17/29 ,  G01R29/10

Abstract: 本说明书提供了一种有源相控阵天线可靠度置信下限评估方法及系统，涉及有源相控阵天线技术领域。该方法通过先验信息确认单个有源相控阵天线的天线阵元个数和有源相控阵天线正常工作条件下允许故障天线阵元数；记录用于试验的有源相控阵天线样本数；记录每个有源相控阵天线样本初始有效的天线阵元数；通过人机交互模块输入测试时长、故障判据、置信度、任务时间等预设信息；对有源相控阵天线开展可靠性试验，对有源相控阵天线可靠度置信下限进行计算。解决了在有限样本量下，现有评估方法试验成本高，难以开展的问题。该方法在相同试验样本和试验时间下，得到更显著的可靠度置信下限评估结果。

公开(公告)号：CN118051715A

公开(公告)日：2024-05-17

申请号：CN202410281245.X

申请日：2024-03-12

Applicant: 北京遥感设备研究所

Inventor： 戴瀛 ,  童雨 ,  雷越舒 ,  高素丽 ,  孙杨 ,  武晓阳 ,  张前南

IPC: G06F17/18 ,  G06F18/22 ,  G06Q10/10 ,  G06Q10/0639

Abstract: 本说明书公开了一种基于BOM的电子产品平台化程度评价方法，涉及数据分析和项目管理技术领域，包括基于一系列产品的物料BOM清单，获得每个产品的物料BOM清单集合；基于两两产品的物料BOM清单集合，获得两两产品的物料BOM清单相似度；基于所有的物料BOM清单相似度，获得产品平均相似度；基于产品平均相似度和平台化判定门限值，判断一系列产品是否属于同一平台，若是，则确定需判断平台化程度的目标产品并计算目标产品的平均相似度；基于目标产品的平均相似度、平台化判定门限值以及平台化判定目标值的数值关系，获得目标产品的平台化程度判定结果，以解决目前针对平台化设计存在如何判断一个电子产品是否为平台化产品，以及如何评价平台化程度的问题。

公开(公告)号：CN118898150A

公开(公告)日：2024-11-05

申请号：CN202410582546.6

申请日：2024-05-11

Applicant: 北京遥感设备研究所

Inventor： 戴瀛 ,  雷越舒 ,  李纪华 ,  童雨 ,  武晓阳 ,  高素丽

IPC: G06F30/20 ,  G01N3/30 ,  G01N3/06 ,  G01N29/04 ,  G01N29/44 ,  G06F17/18

Abstract: 本发明提供一种基于冲击响应谱曲线的时域冲击加速度信号复现方法，包括：获得复现时域冲击加速度信号所用的第一冲击响应谱曲线和时域冲击信号特征；构造时域冲击加速度信号生成函数，生成第一时域冲击加速度信号；对生成的第一时域冲击加速度信号，进行响应谱变换生成第二冲击响应谱曲线；计算生成的第一时域冲击加速度信号与复现所用的所述时域冲击信号特征的第一差异；计算生成的第二冲击响应谱曲线与复现所用的所述第一冲击响应谱曲线的第二差异；根据第一差异和第二差异构建目标函数，设定目标函数求解限值和目标函数优化变量的取值范围，得到可行解；根据可行解重新生成第二时域冲击加速度信号。能更方便准确获得时域冲击加速度数据。

公开(公告)号：CN118208098A

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN202410281247.9

申请日：2024-03-12

Applicant: 北京遥感设备研究所

Inventor： 韩冬冬 ,  吴亚鹏 ,  谢秋石 ,  武晓阳 ,  王晨逸 ,  赵鹰

IPC: E05B47/00 ,  F16J15/00 ,  E05B15/00

Abstract: 本发明提供一种可控制开合的密封装置，包括：铁芯、导电线圈、连接器、密封盖、分离杆、螺母一、螺母二、垫片、弹簧、固定结构、转接帽、滑珠、驱动杆外壳、驱动杆、磁铁和密封壳；导电线圈不通电时，滑珠会从转接帽的孔洞突出一半卡住转接帽，利用螺母一和螺母二和垫片向下压缩弹簧和固定密封盖，再将其余密封罩、密封圈和连接器安装，形成一个密封装置；所述导电线圈通过所述连接器通电时，所述导电线圈会产生与所述磁铁排斥的磁极，将所述驱动杆与所述铁芯分开；所述导电线圈不通过所述连接器通电时，固定在所述驱动杆上的所述磁铁吸附所述铁芯并使所述驱动杆与所述铁芯贴合。本发明设计了一处可密闭、可防电磁和可开合的密封空间。

公开(公告)号：CN109407263A

公开(公告)日：2019-03-01

申请号：CN201710708010.4

申请日：2017-08-17

Applicant: 北京遥感设备研究所

Inventor： 许敏达 ,  李娟 ,  王庆丰 ,  武晓阳 ,  李昂 ,  熊健

IPC: G02B7/182

Abstract: 一种全反离轴准直光学系统的高精度装调方法，首先采用自准直检测光路建立光学基准面；其次，采用Offner检测光路单独检测主镜；第三，利用中间像面结合主镜检测装调次镜；第四，利用三镜与次镜联调，五角棱镜法测量出射光平行度；最后，在光学系统中安装折入平面镜和转出平面镜。本发明解决了全反离轴光学系统由于存在偏心和倾斜，对于反射镜的空间定位、角度控制以及空间基准的建立十分困难，装调过程须反复迭代的问题。