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公开(公告)号：CN114398774B
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202111681340.1
申请日：2021-12-28
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开一种高可靠光学系统优化设计方法，包括：开展光学结构和光学元件力热仿真分析，求得光学结构的强度分布和最大应力分布；同时，求得光学元件尺寸变化的频数分布和累计频率分布，并记录仿真的总次数和光学元件尺寸变化满足要求的次数；根据光学结构强度分布和最大应力分布，计算光学结构可靠度；同时，根据光学元件仿真总次数和光学元件尺寸变化满足要求的次数，计算光学元件可靠度；利用光学结构可靠度和光学元件可靠度，计算光学系统的可靠度，本发明一方面，给出了光学系统可靠度的定量评估，量化指导光学系统可靠性的设计提高；另一方面，给出了针对光学系统各组成部分以及各组成部分之间设计匹配性的验证试验。
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公开(公告)号：CN118051715A
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202410281245.X
申请日：2024-03-12
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: G06F17/18 , G06F18/22 , G06Q10/10 , G06Q10/0639
Abstract: 本说明书公开了一种基于BOM的电子产品平台化程度评价方法，涉及数据分析和项目管理技术领域，包括基于一系列产品的物料BOM清单，获得每个产品的物料BOM清单集合；基于两两产品的物料BOM清单集合，获得两两产品的物料BOM清单相似度；基于所有的物料BOM清单相似度，获得产品平均相似度；基于产品平均相似度和平台化判定门限值，判断一系列产品是否属于同一平台，若是，则确定需判断平台化程度的目标产品并计算目标产品的平均相似度；基于目标产品的平均相似度、平台化判定门限值以及平台化判定目标值的数值关系，获得目标产品的平台化程度判定结果，以解决目前针对平台化设计存在如何判断一个电子产品是否为平台化产品，以及如何评价平台化程度的问题。
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公开(公告)号：CN114398765A
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202111627358.3
申请日：2021-12-28
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: G06F30/20 , G06F30/17 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开一种形状记忆合金解锁装置可靠性评估预计方法及系统，包括：操作人员按解锁装置识别码分别记录各套装置解锁总次数和成功次数，存储于便携式解锁数据记录器；操作人员通过统计控制主机，统计相应的解锁总次数和成功次数；对选定的单套或多套解锁装置进行可靠性评估，根据统计得到的解锁总次数和成功次数，计算解锁可靠度的评估值、后续次数解锁均解锁成功的可靠度、解锁装置成功解锁可靠度置信下限；本发明形成了一种便于操作的步骤化的可靠性评估预计流程，给出了设计决策和使用维护时需要的量化指标，包括解锁装置解锁可靠度、解锁装置成功解锁概率、解锁装置解锁可靠度置信下限，从而帮助设计和操作人员，保证航天产品的安全可靠。
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公开(公告)号：CN114414463B
公开(公告)日：2023-11-14
申请号：CN202111630870.3
申请日：2021-12-28
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明公开一种铝基复合材料光学系统长期贮存稳定性验证方法，包括：对铝基复合材料光学系统试验样品预处理残余应力测试，确定产品长期贮存年限及环境条件，制定温度循环试验条件，加速验证铝基复合材料光学系统在长期温度变化条件下的尺寸稳定性；计算温度循环试验加速因子；确定温度循环试验时间并开展试验，进行试验后测试，制定高温腐蚀试验条件，加速验证铝基复合材料光学系统在长期湿度腐蚀条件下的耐腐蚀性；计算高温腐蚀试验加速因子；确定高温腐蚀试验时间并开展试验；进行试验后测试，验证铝基复合光学经过高温腐蚀加速试验后是否仍满足使用要求。本发明可以通过短期试验验证铝基复合材料光学系统长期贮存稳定性。
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公开(公告)号：CN114414463A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111630870.3
申请日：2021-12-28
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明公开一种铝基复合材料光学系统长期贮存稳定性验证方法，包括：对铝基复合材料光学系统试验样品预处理残余应力测试，确定产品长期贮存年限及环境条件，制定温度循环试验条件，加速验证铝基复合材料光学系统在长期温度变化条件下的尺寸稳定性；计算温度循环试验加速因子；确定温度循环试验时间并开展试验，进行试验后测试，制定高温腐蚀试验条件，加速验证铝基复合材料光学系统在长期湿度腐蚀条件下的耐腐蚀性；计算高温腐蚀试验加速因子；确定高温腐蚀试验时间并开展试验；进行试验后测试，验证铝基复合光学经过高温腐蚀加速试验后是否仍满足使用要求。本发明可以通过短期试验验证铝基复合材料光学系统长期贮存稳定性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109560026A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201811462785.9
申请日：2018-12-03
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: H01L21/67
Abstract: 本发明提出一种真空电子组件力学环境适应性装置，所述装置包括：芯片(1)、基板(2)、支撑杆(3)、第一键合丝端(4a)、第二键合丝端(4b)、组件外壳(5)、组件外壳焊盘(7)、基板焊盘(8)，其中，第一键合丝端(4a)和第二键合丝端(4b)分别为一根键合丝的两端；所述支撑杆(3)与基板(2)连接，所述支撑杆(3)与组件外壳(5)连接；所述芯片(1)与基板(2)连接，第一键合丝端(4a)与基板焊盘(8)连接；所述第二键合丝端(4b)与组件外壳焊盘(7)连接。本发明通过对组件内部的支撑杆进行了全新结构设计，并对支撑杆与组件外壳进行点胶加固处理措施，可在短时间内实现真空电子组件力学环境适应性大幅改进。
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公开(公告)号：CN118898150A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410582546.6
申请日：2024-05-11
Applicant: 北京遥感设备研究所
Abstract: 本发明提供一种基于冲击响应谱曲线的时域冲击加速度信号复现方法，包括：获得复现时域冲击加速度信号所用的第一冲击响应谱曲线和时域冲击信号特征；构造时域冲击加速度信号生成函数，生成第一时域冲击加速度信号；对生成的第一时域冲击加速度信号，进行响应谱变换生成第二冲击响应谱曲线；计算生成的第一时域冲击加速度信号与复现所用的所述时域冲击信号特征的第一差异；计算生成的第二冲击响应谱曲线与复现所用的所述第一冲击响应谱曲线的第二差异；根据第一差异和第二差异构建目标函数，设定目标函数求解限值和目标函数优化变量的取值范围，得到可行解；根据可行解重新生成第二时域冲击加速度信号。能更方便准确获得时域冲击加速度数据。
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公开(公告)号：CN109585405A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811462780.6
申请日：2018-12-03
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: H01L23/49
Abstract: 本发明公开一种真空电子组件力学环境适应性系统，所述系统包括：第一焊盘(1)、第二焊盘(2)、焊料(3)、第一键合丝端(4a)、第二键合丝端(4b)，其中，第一键合丝端(4a)和第二键合丝端(4b)分别为一根键合丝的两端；第一键合丝端(4a)与第一焊盘(1)通过焊料(3)连接，第一键合丝端(4b)与第二焊盘(2)通过焊料(3)连接。本发明通过对组件内部键合丝两端进行点胶加固处理措施，可在短时间内实现真空电子组件力学环境适应性大幅提升。
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公开(公告)号：CN118368003A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410281299.6
申请日：2024-03-12
Applicant: 北京遥感设备研究所
Abstract: 本说明书提供了一种有源相控阵天线可靠度置信下限评估方法及系统，涉及有源相控阵天线技术领域。该方法通过先验信息确认单个有源相控阵天线的天线阵元个数和有源相控阵天线正常工作条件下允许故障天线阵元数；记录用于试验的有源相控阵天线样本数；记录每个有源相控阵天线样本初始有效的天线阵元数；通过人机交互模块输入测试时长、故障判据、置信度、任务时间等预设信息；对有源相控阵天线开展可靠性试验，对有源相控阵天线可靠度置信下限进行计算。解决了在有限样本量下，现有评估方法试验成本高，难以开展的问题。该方法在相同试验样本和试验时间下，得到更显著的可靠度置信下限评估结果。
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公开(公告)号：CN114398774A
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202111681340.1
申请日：2021-12-28
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开一种高可靠光学系统优化设计方法，包括：开展光学结构和光学元件力热仿真分析，求得光学结构的强度分布和最大应力分布；同时，求得光学元件尺寸变化的频数分布和累计频率分布，并记录仿真的总次数和光学元件尺寸变化满足要求的次数；根据光学结构强度分布和最大应力分布，计算光学结构可靠度；同时，根据光学元件仿真总次数和光学元件尺寸变化满足要求的次数，计算光学元件可靠度；利用光学结构可靠度和光学元件可靠度，计算光学系统的可靠度，本发明一方面，给出了光学系统可靠度的定量评估，量化指导光学系统可靠性的设计提高；另一方面，给出了针对光学系统各组成部分以及各组成部分之间设计匹配性的验证试验。
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