公开(公告)号：CN117033176A

公开(公告)日：2023-11-10

申请号：CN202310832639.5

申请日：2023-07-08

Applicant: 北京计算机技术及应用研究所

Inventor： 李东方 ,  苏明月 ,  李海浩 ,  杨光 ,  宋小敬 ,  王纪

IPC: G06F11/36 ,  G06N5/025

Abstract: 本发明涉及一种基于多维关联规则挖掘的FPGA软件缺陷分析方法，属于FPGA验证技术领域。本发明结合数据挖掘和FPGA设计领域的知识，设计了一种基于多维关联规则挖掘的FPGA软件缺陷分析方法，该方法综合考虑规则检查结果、形式化验证结果与FPGA软件缺陷之间的相互关联关系，实现对潜在缺陷的全面分析和精确识别，提高FPGA软件缺陷分析速率，帮助改进FPGA代码的质量和可靠性。

公开(公告)号：CN116595185A

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN202310297407.4

申请日：2023-03-24

Applicant: 北京计算机技术及应用研究所

Inventor： 李东方 ,  李海浩 ,  苏明月 ,  王志昊 ,  沈炜 ,  杨光 ,  李佳旭

IPC: G06F16/36 ,  G06F40/295 ,  G06F11/36 ,  G06F16/2455

Abstract: 本发明涉及一种基于知识图谱的FPGA代码缺陷检测方法，属于FPGA验证技术领域。相比于传统的FPFA代码缺陷检测方法，本发明的方法具有以下的优势：1、增加代码缺陷检出率。利用被测代码的软件类型、模块功能、违反规则等信息即可根据先验知识，通过知识图谱自动为测试人员推荐相应的可疑缺陷，可以提高测试人员的缺陷检测能力，从而增加代码缺陷的检出率。2、解释性强，可视化程度高。构建的FPGA代码缺陷知识图谱以图结构的形式存储FPGA代码缺陷信息，测试人员在检索相关缺陷时，对其中的关联关系一目了然。