PCIe从设备测试装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106649021A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611061914.4

    申请日:2016-11-25

    CPC classification number: G06F11/26 G06F2211/002

    Abstract: 本发明公开了一种PCIe从设备测试装置,其中,包括:PCIe‑IP核,用于将PCIE事物层数据报文模块的输出数据包,转换为PCIe线路的物理信号;链路状态监控模块,将PCIe‑IP核的链路状态发送给处理器;PCIE事物层数据报文处理模块,用于将PCIe‑IP核的数据包进行解包并发送给被测设备行为监控模块;被测设备行为监控模块,判断被测设备返回数据包内是否正常,并将判断结果发送给处理器;测试激励编辑模块,用于按照处理器的测试指令,产生相应的测试数据,发送给PCIE事物层数据报文处理模块;处理器,用于根据用户指令产生相应的命令,并根据被测设备返回的数据包,输出给用户。

    PCIe从设备测试装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106649021B

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201611061914.4

    申请日:2016-11-25

    Abstract: 本发明公开了一种PCIe从设备测试装置,其中,包括:PCIe‑IP核,用于将PCIE事物层数据报文模块的输出数据包,转换为PCIe线路的物理信号;链路状态监控模块,将PCIe‑IP核的链路状态发送给处理器;PCIE事物层数据报文处理模块,用于将PCIe‑IP核的数据包进行解包并发送给被测设备行为监控模块;被测设备行为监控模块,判断被测设备返回数据包内是否正常,并将判断结果发送给处理器;测试激励编辑模块,用于按照处理器的测试指令,产生相应的测试数据,发送给PCIE事物层数据报文处理模块;处理器,用于根据用户指令产生相应的命令,并根据被测设备返回的数据包,输出给用户。

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