Patent search ap:("北京航天控制仪器研究所") AND inv:"任强富" Page 1

1.

发明公开
一种多功能电位器性能测试系统无效

公开(公告)号：CN110244159A

公开(公告)日：2019-09-17

申请号：CN201910549753.0

申请日：2019-06-24

Applicant: 北京航天控制仪器研究所

Inventor： 孙章军 , 田秀 , 袁倩 , 任强富 , 何志宏 , 阚琳洁

IPC: G01R31/01

Abstract: 本发明公开了一种多功能电位器性能测试系统，包括控制系统、执行机构、数字万用表、上位机测试系统和电位器安装平台；上位机测试系统与控制系统之间通过RS422进行数据交互，控制系统根据上位机测试系统的指令控制执行机构带动待测试的电位器旋转；电位器安装平台用于安装待测试的电位器；数字万用表用于测试电位器的电阻数据并通过其自带的RS232串口将电阻数据反馈给上位机测试系统。本发明具有自动驱动电位器转动、可数字化显示、自动判读数据、测试精度高、测试过程方便快速，以及可批量测试等优点，显著提高了电位器入厂筛选和故障分析效率。

Patent Agency Ranking