一种液氢温度下的高压密封结构性能验证试验系统及方法

    公开(公告)号:CN118130000A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202311864897.8

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明公开了一种液氢温度下的高压密封结构性能验证试验系统及方法。试验系统包括:氦气源、液氢槽、换热器、温度传感器、压力传感器和氦检漏仪;氦气源用于向待测密封结构的内腔通入氦气;液氢槽用于浸没待测密封结构和换热器,换热器设置于氦气管路入口阀门和待测密封结构之间的氦气管路上,用于降低氦气管路中的氦气温度,以使通入待测密封结构的氦气温度和液氢温度匹配;在温度传感器指示待测密封结构内腔的温度以及压力传感器指示待测密封结构内腔的压力达到试验要求的情况下,氦检漏仪的读数用于判断待测密封结构是否满足密封性能验证要求。本发明的方案适应于液氢温度下、高压的密封试验结构的密封性能验证试验。

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