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公开(公告)号：CN109405792B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN201811504536.1
申请日：2018-12-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01B21/30
Abstract: 本发明提供一种表面粗糙度检测装置及其操作方法，属于检测装置技术领域。该装置包括V形托盘和表面形貌检测装置，V形托盘用于放置待检测钢卷，表面形貌检测装置包括移动架、Z方向滑轨、表面测量组件、主机箱、运动操作面板和测量操作面板，移动架的底面上具有若干个万向轮，移动架的底面上设有相对设置的一对定位块，一对定位块实现表面形貌检测装置的对中，移动架上还设有一X方向滑轨，X方向滑轨上设有一滑块，Z方向滑轨与滑块滑动配合，表面测量组件设置在Z方向滑轨的下端，主机箱、运动操作面板和测量操作面板均设置在移动架上。本发明适用于轧辊、钢卷、钢带表面形貌检测、且使用方便。
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公开(公告)号：CN109405792A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811504536.1
申请日：2018-12-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01B21/30
Abstract: 本发明提供一种表面粗糙度检测装置及其操作方法，属于检测装置技术领域。该装置包括V形托盘和表面形貌检测装置，V形托盘用于放置待检测钢卷，表面形貌检测装置包括移动架、Z方向滑轨、表面测量组件、主机箱、运动操作面板和测量操作面板，移动架的底面上具有若干个万向轮，移动架的底面上设有相对设置的一对定位块，一对定位块实现表面形貌检测装置的对中，移动架上还设有一X方向滑轨，X方向滑轨上设有一滑块，Z方向滑轨与滑块滑动配合，表面测量组件设置在Z方向滑轨的下端，主机箱、运动操作面板和测量操作面板均设置在移动架上。本发明适用于轧辊、钢卷、钢带表面形貌检测、且使用方便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104962725B
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201510406517.5
申请日：2015-07-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: C21D10/00
CPC classification number: Y02P10/212
Abstract: 本发明提供一种磁振复合时效残余应力消减装置,磁振复合时效残余应力消减装置包括振动时效系统和磁处理系统，振动时效系统包括振动台、支撑框架和张力施加机构，支撑框架设置在振动台上方，支撑框架与振动台固定连接，支撑框架设置有第一样品连接件，张力施加机构对应设置有第二样品连接件，振动台设置有激振头，激振头设置在第一样品连接件和第二样品连接件之间，磁处理系统设置在振动台上方的支撑框架上，磁处理系统包括磁体和磁控制器，磁体与控制器连接。通过设置振动时效系统和磁处理系统，并将磁处理系统设置在振动台上方的支撑框架上，能够利用磁场处理与振动时效的复合作用来完成残余应力均化。
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公开(公告)号：CN104962725A
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201510406517.5
申请日：2015-07-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: C21D10/00
CPC classification number: Y02P10/212
Abstract: 本发明提供一种磁振复合时效残余应力消减装置,磁振复合时效残余应力消减装置包括振动时效系统和磁处理系统，振动时效系统包括振动台、支撑框架和张力施加机构，支撑框架设置在振动台上方，支撑框架与振动台固定连接，支撑框架设置有第一样品连接件，张力施加机构对应设置有第二样品连接件，振动台设置有激振头，激振头设置在第一样品连接件和第二样品连接件之间，磁处理系统设置在振动台上方的支撑框架上，磁处理系统包括磁体和磁控制器，磁体与控制器连接。通过设置振动时效系统和磁处理系统，并将磁处理系统设置在振动台上方的支撑框架上，能够利用磁场处理与振动时效的复合作用来完成残余应力均化。
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公开(公告)号：CN109540080B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201811504538.0
申请日：2018-12-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01B21/30
Abstract: 本发明提供一种定位检测装置，属于检测装置技术领域。该装置包括定位框架、连接板、缓冲装置、距离传感器、粗糙度检测仪、万向调节系统、转接块和粗糙度仪夹块，定位框架采用三点式定位，定位框架通过缓冲装置与连接板相连，缓冲装置使定位框架与检测物料自动贴合，定位框架上设有距离传感器和万向调节系统，距离传感器位于万向调节系统的一侧，万向调节系统的主轴线与定位框架的上端面垂直，万向调节系统的调节轴上设有粗糙度检测仪。本发明装置使用方便、测量准确性高。
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公开(公告)号：CN109540080A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201811504538.0
申请日：2018-12-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01B21/30
Abstract: 本发明提供一种定位检测装置，属于检测装置技术领域。该装置包括定位框架、连接板、缓冲装置、距离传感器、粗糙度检测仪、万向调节系统、转接块和粗糙度仪夹块，定位框架采用三点式定位，定位框架通过缓冲装置与连接板相连，缓冲装置使定位框架与检测物料自动贴合，定位框架上设有距离传感器和万向调节系统，距离传感器位于万向调节系统的一侧，万向调节系统的主轴线与定位框架的上端面垂直，万向调节系统的调节轴上设有粗糙度检测仪。本发明装置使用方便、测量准确性高。
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公开(公告)号：CN209181762U
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201822064266.9
申请日：2018-12-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01B21/30
Abstract: 本实用新型提供一种表面粗糙度检测装置，属于检测装置技术领域。该装置包括V形托盘和表面形貌检测装置，V形托盘用于放置待检测钢卷，表面形貌检测装置包括移动架、Z方向滑轨、表面测量组件、主机箱、运动操作面板和测量操作面板，移动架的底面上具有若干个万向轮，移动架的底面上设有相对设置的一对定位块，一对定位块实现表面形貌检测装置的对中，移动架上还设有一X方向滑轨，X方向滑轨上设有一滑块，Z方向滑轨与滑块滑动配合，表面测量组件设置在Z方向滑轨的下端，主机箱、运动操作面板和测量操作面板均设置在移动架上。本实用新型适用于轧辊、钢卷、钢带表面形貌检测、且使用方便。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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