公开(公告)号：CN103411673B

公开(公告)日：2015-03-04

申请号：CN201310369721.5

申请日：2013-08-22

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 唐义 ,  陈廷爱 ,  张丽君 ,  郑成 ,  南一冰

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

Abstract: 基于同心离轴双反射系统的成像光谱仪包括入射狭缝、准直光学系统、平面光栅、聚焦光学系统、阵列探测器。其准直光学系统与聚焦光学系统分别为同心离轴双反射系统，且共用相同光学参数。通过入射狭缝的出射光投射到准直光学系统中，经准直光学系统实现光束准直后投射到平面光栅上，从平面光栅上衍射的光束再次投射到聚焦光学系统中，经聚焦光学系统聚焦成像到阵列探测器上。本发明解决了传统平面光栅成像光谱仪彗差与像散难以同时校正的问题，可实现较高的光谱分辨力与成像分辨力。该成像光谱仪所有反射镜的光学面均为球面，且具有公共球心，不仅可以降低光学加工难度与加工成本，同时有利于工程光学的装调与测试。

公开(公告)号：CN103411673A

公开(公告)日：2013-11-27

申请号：CN201310369721.5

申请日：2013-08-22

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 唐义 ,  陈廷爱 ,  张丽君 ,  郑成 ,  南一冰

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

Abstract: 基于同心离轴双反射系统的成像光谱仪包括入射狭缝、准直光学系统、平面光栅、聚焦光学系统、阵列探测器。其准直光学系统与聚焦光学系统分别为同心离轴双反射系统，且共用相同光学参数。通过入射狭缝的出射光投射到准直光学系统中，经准直光学系统实现光束准直后投射到平面光栅上，从平面光栅上衍射的光束再次投射到聚焦光学系统中，经聚焦光学系统聚焦成像到阵列探测器上。本发明解决了传统平面光栅成像光谱仪彗差与像散难以同时校正的问题，可实现较高的光谱分辨力与成像分辨力。该成像光谱仪所有反射镜的光学面均为球面，且具有公共球心，不仅可以降低光学加工难度与加工成本，同时有利于工程光学的装调与测试。