公开(公告)号：CN104410445B

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201410546908.2

申请日：2014-10-16

Applicant: 北京理工大学 ,  中国电子科技集团公司第四十一研究所

Inventor： 唐义 ,  南一冰 ,  黄河清 ,  王少水 ,  孙权社 ,  张学彬

IPC: H04B10/07

Abstract: 本发明公开了一种光发射机调制度测量设备的校准装置。包括光发射机、信号调制、待校准设备、波形采集和数据处理5个部分。其中，光发射机发出光信号，经信号调制单元调制为方波信号，再经过待校准设备的光电转换，传输给波形采集单元采样，最后由数据处理单元处理后计算出调制度。另外，本发明还公开了一种光发射机调制度测量设备的校准方法。该方法通过开始、信号调制、波形采集、调制度计算、判断和校准六个步骤实现校准光发射机调制度测量设备的功能。本发明公开的校准装置和方法可校准不同工作波段和频率的光发射机调制度测量设备，精确测定此类设备在检测光通信整机功率和效率方面的能力，有利于改进此类设备的性能，提高其可靠性。

公开(公告)号：CN103411673B

公开(公告)日：2015-03-04

申请号：CN201310369721.5

申请日：2013-08-22

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 唐义 ,  陈廷爱 ,  张丽君 ,  郑成 ,  南一冰

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

Abstract: 基于同心离轴双反射系统的成像光谱仪包括入射狭缝、准直光学系统、平面光栅、聚焦光学系统、阵列探测器。其准直光学系统与聚焦光学系统分别为同心离轴双反射系统，且共用相同光学参数。通过入射狭缝的出射光投射到准直光学系统中，经准直光学系统实现光束准直后投射到平面光栅上，从平面光栅上衍射的光束再次投射到聚焦光学系统中，经聚焦光学系统聚焦成像到阵列探测器上。本发明解决了传统平面光栅成像光谱仪彗差与像散难以同时校正的问题，可实现较高的光谱分辨力与成像分辨力。该成像光谱仪所有反射镜的光学面均为球面，且具有公共球心，不仅可以降低光学加工难度与加工成本，同时有利于工程光学的装调与测试。

公开(公告)号：CN104316468A

公开(公告)日：2015-01-28

申请号：CN201410546684.5

申请日：2014-10-16

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 唐义 ,  朱庆炜 ,  崔璐 ,  张学斌 ,  南一冰

IPC: G01N21/25

Abstract: 本发明公开一种用于地物样品光谱测量的多功能全向测量系统。该系统包括宽光谱太阳模拟光源，地物光谱仪，电源系统，地物样品自转装置以及探测器公转装置，可在室内野外、有源无源的情况下工作，实现多功能全向测量。本专利所述的用于地物样品光谱测量的多功能全向测量系统主要用于固体地物样品光谱测量，用宽光谱太阳模拟光源模拟太阳光照射地物样品表面，通过地物样品自转装置和探测器公转装置控制地物样品与入射光束以及探测器与地物样品的相对位置，达到探测器接收地物样品表面反射光的目的，从而得出地物样品光谱信息。此外，该系统也可对其他物体进行光谱测量或者作为多维自由度电控平台使用等。

公开(公告)号：CN104485998A

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：CN201410779623.3

申请日：2014-12-15

Applicant: 北京理工大学 ,  中国电子科技集团公司第四十一研究所

Inventor： 唐义 ,  南一冰 ,  黄河清 ,  王少水 ,  孙权社 ,  张学彬

IPC: H04B10/40 ,  H04B10/079

Abstract: 本发明公开了一种光通信收发组件响应时间的校准装置。包括宽带接收机、信号输出采集单元、待测发射机、待测接收机和数据处理单元5个部分。其中，待测发射机在信号输出采集单元控制下发射光信号，当其发出的最后一个信标信号被宽带接收机接收后，数据处理单元开始计时；当待测接收机开始工作时计时结束，计时所得即收发响应时间。本发明还公开了一种光通信收发组件响应时间的校准方法，该方法通过开始、开始计时判断、结束计时判断和校准四个步骤也实现校准在现实中使用的光通信设备收发响应时间的功能。本发明公开的校准装置和方法能够检测光通信设备实时双向通信的能力，进而更有利于对光通信设备进行质量监控，提高其双工通信可靠性。

公开(公告)号：CN104410445A

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：CN201410546908.2

申请日：2014-10-16

Applicant: 北京理工大学 ,  中国电子科技集团公司第四十一研究所

Inventor： 唐义 ,  南一冰 ,  黄河清 ,  王少水 ,  孙权社 ,  张学彬

IPC: H04B10/07

Abstract: 本发明公开了一种光发射机调制度测量设备的校准装置。包括光发射机、信号调制、待校准设备、波形采集和数据处理5个部分。其中，光发射机发出光信号，经信号调制单元调制为方波信号，再经过待校准设备的光电转换，传输给波形采集单元采样，最后由数据处理单元处理后计算出调制度。另外，本发明还公开了一种光发射机调制度测量设备的校准方法。该方法通过开始、信号调制、波形采集、调制度计算、判断和校准六个步骤实现校准光发射机调制度测量设备的功能。本发明公开的校准装置和方法可校准不同工作波段和频率的光发射机调制度测量设备，精确测定此类设备在检测光通信整机功率和效率方面的能力，有利于改进此类设备的性能，提高其可靠性。

公开(公告)号：CN103411673A

公开(公告)日：2013-11-27

申请号：CN201310369721.5

申请日：2013-08-22

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 唐义 ,  陈廷爱 ,  张丽君 ,  郑成 ,  南一冰

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

Abstract: 基于同心离轴双反射系统的成像光谱仪包括入射狭缝、准直光学系统、平面光栅、聚焦光学系统、阵列探测器。其准直光学系统与聚焦光学系统分别为同心离轴双反射系统，且共用相同光学参数。通过入射狭缝的出射光投射到准直光学系统中，经准直光学系统实现光束准直后投射到平面光栅上，从平面光栅上衍射的光束再次投射到聚焦光学系统中，经聚焦光学系统聚焦成像到阵列探测器上。本发明解决了传统平面光栅成像光谱仪彗差与像散难以同时校正的问题，可实现较高的光谱分辨力与成像分辨力。该成像光谱仪所有反射镜的光学面均为球面，且具有公共球心，不仅可以降低光学加工难度与加工成本，同时有利于工程光学的装调与测试。