-
公开(公告)号:CN101776516B
公开(公告)日:2012-06-27
申请号:CN201010000554.3
申请日:2010-01-13
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种基于PSD位置探测的共分划面多光谱标靶,属于光电成像与测试技术领域。本发明的PSD位置探测共分划面多光谱标靶,包括基底、PSD、多杆靶组、多圆孔靶和分划线;其中,PSD制作在基底中心区域,分划线中心的延长线与PSD的中心线重合,多杆靶组由具有不同间距、杆长和杆宽的多杆靶构成,且其任意放置在PSD以外的区域;多圆孔靶放置在PSD以外的区域,关于PSD中心对称;基底是多光谱透射材质,分划线是具有标识特征的任意图形。本发明将可透射多光谱波段的材料应用于分划板基底,大大减少了人工或机械调整控制转换对测量精度的影响,该分划板可实现可见光、红外、激光分划标靶合一的功能,具有无失调、精度高、体积小、重量轻等显著特点。
-
公开(公告)号:CN101726358A
公开(公告)日:2010-06-09
申请号:CN200910237438.0
申请日:2009-11-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明属于光电成像与测试技术领域,涉及一种共分划面全光谱标靶。本发明包括基底、多象限探测器、星点孔和分划线;其中,多象限探测器制作在基底分划线以外的区域上,分划线是多象限探测器的区域分割线,星点孔为通孔,位于基底中心处;基底是全光谱透射材质,分划线是具有标识特征的任意图形。本发明将可透射全光谱波段的材料应用于分划板基底,大大减少了人工或机械调整控制转换对测量精度的影响,该分划板可实现可见、红外、激光分划标靶合一的功能,具有无失调、精度高、体积小、重量轻等显著特点,可用于全光谱多光轴一致性检测系统中,实现高精度、无失调的分划瞄准。
-
公开(公告)号:CN101526341A
公开(公告)日:2009-09-09
申请号:CN200910082249.0
申请日:2009-04-21
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/255
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种差动共焦透镜曲率半径测量方法与装置,该方法首先通过差动共焦定焦原理分别确定被测透镜顶点和球心位置,然后测量两焦点间的距离,同时测量过程中还可以通过光瞳滤波技术提高曲率半径测量灵敏度。本发明首次提出利用差动共焦响应曲线过零点时对应被测透镜顶点和球心的特性实现精确定焦,将差动共焦显微原理扩展到曲率半径测量领域,形成差动共焦定焦原理。本发明运用差动共焦定焦原理,具有测量精度高、抗环境干扰能力强的优点,可用于透镜曲率半径的检测与光学系统装配过程中的高精度曲率半径测量。
-
公开(公告)号:CN101726358B
公开(公告)日:2012-02-01
申请号:CN200910237438.0
申请日:2009-11-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明属于光电成像与测试技术领域,涉及一种共分划面全光谱标靶。本发明包括基底、多象限探测器、星点孔和分划线;其中,多象限探测器制作在基底分划线以外的区域上,分划线是多象限探测器的区域分割线,星点孔为通孔,位于基底中心处;基底是全光谱透射材质,分划线是具有标识特征的任意图形。本发明将可透射全光谱波段的材料应用于分划板基底,大大减少了人工或机械调整控制转换对测量精度的影响,该分划板可实现可见、红外、激光分划标靶合一的功能,具有无失调、精度高、体积小、重量轻等显著特点,可用于全光谱多光轴一致性检测系统中,实现高精度、无失调的分划瞄准。
-
公开(公告)号:CN101776516A
公开(公告)日:2010-07-14
申请号:CN201010000554.3
申请日:2010-01-13
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种基于PSD位置探测的共分划面多光谱标靶,属于光电成像与测试技术领域。本发明的PSD位置探测共分划面多光谱标靶,包括基底、PSD、多杆靶组、多圆孔靶和分划线;其中,PSD制作在基底中心区域,分划线中心的延长线与PSD的中心线重合,多杆靶组由具有不同间距、杆长和杆宽的多杆靶构成,且其任意放置在PSD以外的区域;多圆孔靶放置在PSD以外的区域,关于PSD中心对称;基底是多光谱透射材质,分划线是具有标识特征的任意图形。本发明将可透射多光谱波段的材料应用于分划板基底,大大减少了人工或机械调整控制转换对测量精度的影响,该分划板可实现可见光、红外、激光分划标靶合一的功能,具有无失调、精度高、体积小、重量轻等显著特点。
-
-
-
-