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公开(公告)号：CN109829946A
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201910047765.3
申请日：2019-01-18
Applicant: 北京理工大学
IPC: G06T7/73
Abstract: 本申请公开了一种基于快速混合迭代的MAP-TV高光谱亚像元定位方法，方法包括获取高光谱影像；对所述高光谱影像进行混合像元分解，得到不同端元组分的丰度；求取最大后验概率正则化模型MAP-TV；利用FISTA算法和分裂Bregman算法相结合的算法计算xc；使用赢者通吃的类别确定策略计算出最终亚像元定位结果。本发明利用FISTA算法和分裂Bregman算法相结合的算法计算亚像元的定位结果，定位精度高，运算速度快，显著地提高亚像元定位所需的时间。通过拆分高度非线性的复杂模型为几个易于计算的闭合解的子问题，有效的减少了非线性运算，节省了大量的时间和运算量，仅需几步迭代便能得到局部最优解。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109658357A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201811579851.0
申请日：2018-12-24
Applicant: 北京理工大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种面向遥感卫星图像的去噪方法，包括载入原始遥感卫星图像，采用自适应对比度增强方法增强图像对比度得到待去噪图像；将待去噪图像划分为M×N有界离散化栅格，得到离散后的待去噪图像；采用中值绝对差判定准则对离散后的待去噪图像中的脉冲噪声进行探测得到二维标识矩阵F，二维标识矩阵F中像素与待去噪图像的像素一一对应；在离散后的待去噪图像中设定搜索窗口和邻域窗口；领域窗口在搜索窗口中滑动结合相似度计算及高斯加权平均计算方法进行去噪处理，得到去噪后图像。本发明能够实现优良的纹理细节保持及良好的图像去噪效果，同时算法复杂度较低。处理效率较高。
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公开(公告)号：CN109579795A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811384717.5
申请日：2018-11-20
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01C11/04
Abstract: 本发明公开了一种用于星载相机的大画幅遥感图像实时处理系统，系统硬件组成包括数据输入/输出模块、控制模块、数据处理模块和存储模块。控制模块与数据输入/输出模块和数据处理模块分别相连接，控制模块主要由一片CPLD XC95288和两个双口SRAM(DPSRAM)组成；数据输入/输出模块包括两片TLK2711高速串行收发器，与星载相机数据接口连接；数据处理模块主要包括4片ADSP-TS201数字信号处理器(DSP)；存储模块包括由两片SDRAM构成的数据缓冲器和一片非易失的Flash组成的程序存储器。本发明能够实现对星载相机输出的大画幅遥感图像的实时处理，并能为星上图像处理系统的微型化、嵌入式的实际工程化应用提供支持。
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公开(公告)号：CN109579795B
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201811384717.5
申请日：2018-11-20
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01C11/04
Abstract: 本发明公开了一种用于星载相机的大画幅遥感图像实时处理系统，系统硬件组成包括数据输入/输出模块、控制模块、数据处理模块和存储模块。控制模块与数据输入/输出模块和数据处理模块分别相连接，控制模块主要由一片CPLD XC95288和两个双口SRAM(DPSRAM)组成；数据输入/输出模块包括两片TLK2711高速串行收发器，与星载相机数据接口连接；数据处理模块主要包括4片ADSP‑TS201数字信号处理器(DSP)；存储模块包括由两片SDRAM构成的数据缓冲器和一片非易失的Flash组成的程序存储器。本发明能够实现对星载相机输出的大画幅遥感图像的实时处理，并能为星上图像处理系统的微型化、嵌入式的实际工程化应用提供支持。
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公开(公告)号：CN118548822A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410671149.6
申请日：2024-05-28
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种大口径镜面面形高精度检测方法及装置，既去除了使用子孔径拼接法对单子孔径检测时由于参考面精度有限引入的面形误差，提高了检测精度，又将双剪切平移法这一绝对检测技术扩展到大口径平面镜检测领域，扩大了其所能测量的镜面尺寸，降低了大口径平面镜检测过程中的装调难度。包括：(1)搭建测量装置；(2)对每个子孔径区域进行五次检测；(3)移动被测镜，使干涉仪出射光束依次覆盖其他未检测的子孔径区域，对所有子孔径区域进行步骤(2)；(4)重复步骤(3)，直至所有子孔径检测完毕；(5)利用基于离散相位数据的结构法，根据各子孔径的差分面形数据复原出各子孔径的面形；(6)拼接得到被测镜的全口径面形。
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公开(公告)号：CN119125139A
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202411009109.1
申请日：2024-07-26
Abstract: 本发明公开剪切散斑干涉近表面缺陷的检测误差剔除方法及装置，依次通过设置剪切量大小、旋转调整剪切方向、旋转调整狭缝光阑、动态加载和采集光强图、计算和筛选剪切相位图、定位异常条纹、汇总各方向检测结果、计算缺陷分布的步骤，使用不同剪切方向下的剪切相位图作为缺陷检测对象，使剪切量引入的缺陷检测误差沿着不同方向分布，通过对各剪切方向测量结果取交集的方式剔除剪切量引入的缺陷检测误差，实现材料近表面缺陷的高精度检测，能无需剪切量标定和补偿，直接准确的剔除剪切量引入的缺陷检测误差，获取被测件缺陷分布。整个过程方便快捷，并且检测门槛低。
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