SRAM型FPGA故障检测中关键帧地址范围定位方法

    公开(公告)号:CN111950217B

    公开(公告)日:2022-10-14

    申请号:CN202010604753.9

    申请日:2020-06-29

    Abstract: 本发明公开了SRAM型FPGA故障检测中关键帧地址范围定位方法,涉及抗SRAM型FPGA单粒子翻转容错技术领域。该方法能够减少回读检测的配置帧数目,提高故障检测速度的方法。包括如下步骤:步骤一、对SRAM型FPGA芯片的帧结构进行解析。步骤二、对SRAM型FPGA芯片生成的调试比特流进行解析,推导出SRAM型FPGA的配置帧结构,获得所有配置帧的地址。步骤三、使用布局约束技术将用户设计约束在配置存储器上的预设位置范围内,依据配置帧的地址,在预设位置范围内的配置帧中查找确定关键帧地址范围;关键帧为包含关键位的配置帧,关键位为实现用户逻辑电路的配置位。步骤四、利用确定的关键帧地址范围执行故障检测。

    SRAM型FPGA故障检测中关键帧地址范围定位方法

    公开(公告)号:CN111950217A

    公开(公告)日:2020-11-17

    申请号:CN202010604753.9

    申请日:2020-06-29

    Abstract: 本发明公开了SRAM型FPGA故障检测中关键帧地址范围定位方法,涉及抗SRAM型FPGA单粒子翻转容错技术领域。该方法能够减少回读检测的配置帧数目,提高故障检测速度的方法。包括如下步骤:步骤一、对SRAM型FPGA芯片的帧结构进行解析。步骤二、对SRAM型FPGA芯片生成的调试比特流进行解析,推导出SRAM型FPGA的配置帧结构,获得所有配置帧的地址。步骤三、使用布局约束技术将用户设计约束在配置存储器上的预设位置范围内,依据配置帧的地址,在预设位置范围内的配置帧中查找确定关键帧地址范围;关键帧为包含关健位的配置帧,关键位为实现用户逻辑电路的配置位。步骤四、利用确定的关键帧地址范围执行故障检测。

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