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公开(公告)号：CN101629816A
公开(公告)日：2010-01-20
申请号：CN200910148334.2
申请日：2009-06-16
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/245
Abstract: 本发明属于测量仪器制造及测量技术领域，特别是一种可消除零件定位误差的复杂回转体轮廓测量方法及装置。本发明的装置包括由可发射平行光幕的发射器和高精度线阵CCD构成的接收器组成的第一测量头和第二测量头、回转工作台、基座、立式导轨和浮动架组成的立式导轨系统。被测回转体零件置于回转工作台上，第一测量头和第二测量头可随浮动架沿立式导轨上下运动，且第一测量头和第二测量头在被测回转体工件的两侧径向对称分布，测量头的测量范围大于被测回转体的半径变化量。使用该方法和装置测量复杂回转体时，能够有效地自动消除零件定位误差的影响，快速测量复杂回转体的轮廓尺寸和轮廓度误差。
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公开(公告)号：CN101571378A
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：CN200910148328.7
申请日：2009-06-16
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于测量仪器制造及测量技术领域，特别是一种回转体突变截面轴向尺寸高精度自动测量方法。其原理是利用高精度线阵CCD光学成像技术和高精密运动控制技术，通过对回转体纵截面轮廓线的快速测量得到回转体的轮廓数据，计算回转体轮廓线的曲率变化，求取轮廓线上曲率变化的局部极值点，得到突变截面的轴向位置，从而计算出突变截面的轴向尺寸。该方法适用于对各种复杂回转体零件中沟槽、台阶及锥台等轴向尺寸的快速测量，尤其适用于具有小间距的沟槽以及采用接触法不容易测量的回转体零件。
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公开(公告)号：CN116758046A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310815564.X
申请日：2023-07-04
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种纹理表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域，包括：获取纹理表面图像，提取纹理表面图像的纹理特征；对纹理特征进行融合得到融合特征，基于融合特征和特征字典确定纹理表面的缺陷；其中，特征字典基于无缺陷图像训练获得，特征字典包括多个无缺陷的多层次特征。通过获取纹理表面图像，提取纹理表面图像的纹理特征，再对纹理特征进行融合得到融合特征，利用融合特征和基于无缺陷图像训练获得特征字典确定纹理表面的缺陷，提高了纹理表面缺陷检测的效率和准确性，避免了无法收集大量缺陷图像导致缺陷检测不准确以及效率低的问题。
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公开(公告)号：CN101571378B
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN200910148328.7
申请日：2009-06-16
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于测量仪器制造及测量技术领域，特别是一种回转体突变截面轴向尺寸高精度自动测量方法。其原理是利用高精度线阵CCD光学成像技术和高精密运动控制技术，通过对回转体纵截面轮廓线的快速测量得到回转体的轮廓数据，计算回转体轮廓线的曲率变化，求取轮廓线上曲率变化的局部极值点，得到突变截面的轴向位置，从而计算出突变截面的轴向尺寸。该方法适用于对各种复杂回转体零件中沟槽、台阶及锥台等轴向尺寸的快速测量，尤其适用于具有小间距的沟槽以及采用接触法不容易测量的回转体零件。
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