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公开(公告)号:CN105676005A
公开(公告)日:2016-06-15
申请号:CN201610036997.5
申请日:2016-01-20
Applicant: 北京理工大学
CPC classification number: G01R29/0878 , G01R29/10
Abstract: 本发明针对目前1mm频段紧缩场系统检测静区场后撤掉检测系统进行后续测试的情况,提出一种1mm频段紧缩场系统。包括紧缩场反射面、紧缩场馈源、馈源位置调整机构、静区场二维扫描架、二维转台;其中,发射端包括紧缩场反射面、紧缩场馈源以及馈源位置调整机构,馈源位置调整机构用来支撑紧缩场馈源;接收端包括静区场二维扫描架和二维转台,所述静区场二维扫描架水平维行程与地面平行,所述静区二维扫描架与所述二维转台连接,保证静区二维扫描架垂直维和水平维行程中心对准紧缩场反射面中心。
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公开(公告)号:CN105676005B
公开(公告)日:2018-06-29
申请号:CN201610036997.5
申请日:2016-01-20
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明针对目前1mm频段紧缩场系统检测静区场后撤掉检测系统进行后续测试的情况,提出一种1mm频段紧缩场系统。包括紧缩场反射面、紧缩场馈源、馈源位置调整机构、静区场二维扫描架、二维转台;其中,发射端包括紧缩场反射面、紧缩场馈源以及馈源位置调整机构,馈源位置调整机构用来支撑紧缩场馈源;接收端包括静区场二维扫描架和二维转台,所述静区场二维扫描架水平维行程与地面平行,所述静区二维扫描架与所述二维转台连接,保证静区二维扫描架垂直维和水平维行程中心对准紧缩场反射面中心。
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