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公开(公告)号：CN105676005A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610036997.5
申请日：2016-01-20
Applicant: 北京理工大学
CPC classification number: G01R29/0878 , G01R29/10
Abstract: 本发明针对目前1mm频段紧缩场系统检测静区场后撤掉检测系统进行后续测试的情况，提出一种1mm频段紧缩场系统。包括紧缩场反射面、紧缩场馈源、馈源位置调整机构、静区场二维扫描架、二维转台；其中，发射端包括紧缩场反射面、紧缩场馈源以及馈源位置调整机构，馈源位置调整机构用来支撑紧缩场馈源；接收端包括静区场二维扫描架和二维转台，所述静区场二维扫描架水平维行程与地面平行，所述静区二维扫描架与所述二维转台连接，保证静区二维扫描架垂直维和水平维行程中心对准紧缩场反射面中心。
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公开(公告)号：CN108896965B
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN201810387267.9
申请日：2018-04-26
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种200GHz频段信号收发测量系统，包括：频率源模块，用于提供第一射频信号和第二射频信号，所述第一射频信号和所述第二射频信号为相参信号；发射前端模块，用于接收所述第一射频信号，并输出200GHz频段的第三射频信号；发射天线，用于发射所述第三射频信号；接收天线，用于接收所述第三射频信号对应的反射信号；接收前端模块，用于接收所述反射信号和所述第二射频信号，并输出设定频率的第四射频信号，设定频率小于该200GHz频段的频率；中频接收模块，用于接收该第四射频信号，并输出I/Q解调信号，以进行测量结果分析；其中，该发射前端模块和该接收前端模块中的器件是基于固态电子学原理实现。本发明能够实现基于固态电子学的200GHz频段收发测量。
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公开(公告)号：CN105676005B
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201610036997.5
申请日：2016-01-20
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明针对目前1mm频段紧缩场系统检测静区场后撤掉检测系统进行后续测试的情况，提出一种1mm频段紧缩场系统。包括紧缩场反射面、紧缩场馈源、馈源位置调整机构、静区场二维扫描架、二维转台；其中，发射端包括紧缩场反射面、紧缩场馈源以及馈源位置调整机构，馈源位置调整机构用来支撑紧缩场馈源；接收端包括静区场二维扫描架和二维转台，所述静区场二维扫描架水平维行程与地面平行，所述静区二维扫描架与所述二维转台连接，保证静区二维扫描架垂直维和水平维行程中心对准紧缩场反射面中心。
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公开(公告)号：CN108896965A
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201810387267.9
申请日：2018-04-26
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种200GHz频段信号收发测量系统，包括：频率源模块，用于提供第一射频信号和第二射频信号，所述第一射频信号和所述第二射频信号为相参信号；发射前端模块，用于接收所述第一射频信号，并输出200GHz频段的第三射频信号；发射天线，用于发射所述第三射频信号；接收天线，用于接收所述第三射频信号对应的反射信号；接收前端模块，用于接收所述反射信号和所述第二射频信号，并输出设定频率的第四射频信号，设定频率小于该200GHz频段的频率；中频接收模块，用于接收该第四射频信号，并输出I/Q解调信号，以进行测量结果分析；其中，该发射前端模块和该接收前端模块中的器件是基于固态电子学原理实现。本发明能够实现基于固态电子学的200GHz频段收发测量。
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