公开(公告)号：CN118329952B

公开(公告)日：2024-11-29

申请号：CN202410748369.4

申请日：2024-06-12

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 王珊珊 ,  杜建新 ,  朱城 ,  张鹏翔 ,  彭绍春 ,  于晓勇 ,  高培峰 ,  向卓

IPC: G01N23/2273

Abstract: 本发明公开了一种测量半导体薄膜材料禁带宽度的方法，包括：标定步骤、测试步骤和计算步骤。该方法通过将紫外光电子能谱技术和反光电子能谱技术相结合，不仅能直接获得半导体薄膜材料价带顶、导带底的位置，或直接获得半导体薄膜材料最高占据分子轨道、最低未占据分子轨道的位置，而且通过计算还可以获得半导体薄膜材料的禁带宽度，测试结果更加真实。紫外光电子能谱单元和反光电子能谱单元置于同一超高真空环境中，超高真空环境中气体分子的浓度极低，致使采集的测试信号精度提高。另外由于激发源能量较低，激发过程中不包括芯能级激发，因此可避免芯能级激发时伴随的“驰豫过程”引起的信号失真，测试结果的准确度大大提高。

公开(公告)号：CN118329952A

公开(公告)日：2024-07-12

申请号：CN202410748369.4

申请日：2024-06-12

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 王珊珊 ,  杜建新 ,  朱城 ,  张鹏翔 ,  彭绍春 ,  于晓勇 ,  高培峰 ,  向卓

IPC: G01N23/2273

Abstract: 本发明公开了一种测量半导体薄膜材料禁带宽度的方法，包括：标定步骤、测试步骤和计算步骤。该方法通过将紫外光电子能谱技术和反光电子能谱技术相结合，不仅能直接获得半导体薄膜材料价带顶、导带底的位置，或直接获得半导体薄膜材料最高占据分子轨道、最低未占据分子轨道的位置，而且通过计算还可以获得半导体薄膜材料的禁带宽度，测试结果更加真实。紫外光电子能谱单元和反光电子能谱单元置于同一超高真空环境中，超高真空环境中气体分子的浓度极低，致使采集的测试信号精度提高。另外由于激发源能量较低，激发过程中不包括芯能级激发，因此可避免芯能级激发时伴随的“驰豫过程”引起的信号失真，测试结果的准确度大大提高。

公开(公告)号：CN119224027B

公开(公告)日：2025-03-11

申请号：CN202411718949.5

申请日：2024-11-28

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 王珊珊 ,  杜建新 ,  朱城 ,  彭绍春 ,  于晓勇 ,  高培峰 ,  张鹏翔 ,  张雨桐 ,  蒋浩然

IPC: G01N23/2208 ,  G01N23/2273

Abstract: 本发明公开了一种测量半导体薄膜材料第一电子亲和势的方法，属于表界面分析领域，该测量方法包括：标定步骤、测试步骤和计算步骤。该方法在主超高真空室中搭载真空紫外光电子能谱系统和反光电子能谱系统，通过将紫外光电子能谱技术和反光电子能谱技术相结合，不仅能获得相对于费米能级的二次电子截止边能量位置以及功函数，还可以获得导带底位置或获得最低未占据分子轨道位置，而且通过计算进一步获得半导体薄膜材料的第一电子亲和势数值，该测量方法便捷、操作过程简单、准确度高、普适性强。

公开(公告)号：CN119224027A

公开(公告)日：2024-12-31

申请号：CN202411718949.5

申请日：2024-11-28

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 王珊珊 ,  杜建新 ,  朱城 ,  彭绍春 ,  于晓勇 ,  高培峰 ,  张鹏翔 ,  张用桐 ,  蒋浩然

IPC: G01N23/2208 ,  G01N23/2273

Abstract: 本发明公开了一种测量半导体薄膜材料第一电子亲和势的方法，属于表界面分析领域，该测量方法包括：标定步骤、测试步骤和计算步骤。该方法在主超高真空室中搭载真空紫外光电子能谱系统和反光电子能谱系统，通过将紫外光电子能谱技术和反光电子能谱技术相结合，不仅能获得相对于费米能级的二次电子截止边能量位置以及功函数，还可以获得导带底位置或获得最低未占据分子轨道位置，而且通过计算进一步获得半导体薄膜材料的第一电子亲和势数值，该测量方法便捷、操作过程简单、准确度高、普适性强。

公开(公告)号：CN118067579B

公开(公告)日：2024-06-21

申请号：CN202410471689.X

申请日：2024-04-19

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 王珊珊 ,  高建兵 ,  杜建新 ,  黄俊峰 ,  彭绍春 ,  于晓勇 ,  高培峰 ,  王余枫

IPC: G01N15/00 ,  G01N33/00 ,  G01N5/04

Abstract: 本发明属于燃油车尾气颗粒物治理技术领域，具体涉及一种模拟燃油车尾气颗粒形态演变协同热物性原位检测系统及方法。本发明公开的模拟燃油车尾气颗粒形态演变协同热物性原位检测系统包括可控程序升温控制光学玻璃套管、高清摄像机、热重分析单元、气体排放分析单元，并搭载燃油车尾气颗粒真实气氛模拟单元及混合气体分流单元，可以实现模拟真实环境燃油车尾气颗粒形态演变协同热物性原位检测，该方法操作便捷、价格低、性价比高。通过获得燃油车尾气颗粒物在特定条件下实时失重率的实时形态演变，实现模拟燃油车尾气颗粒形态演变协同热物性的原位检测。

公开(公告)号：CN118067579A

公开(公告)日：2024-05-24

申请号：CN202410471689.X

申请日：2024-04-19

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 王珊珊 ,  高建兵 ,  杜建新 ,  黄俊峰 ,  彭绍春 ,  于晓勇 ,  高培峰 ,  王余枫

IPC: G01N15/00 ,  G01N33/00 ,  G01N5/04

Abstract: 本发明属于燃油车尾气颗粒物治理技术领域，具体涉及一种模拟燃油车尾气颗粒形态演变协同热物性原位检测系统及方法。本发明公开的模拟燃油车尾气颗粒形态演变协同热物性原位检测系统包括可控程序升温控制光学玻璃套管、高清摄像机、热重分析单元、气体排放分析单元，并搭载燃油车尾气颗粒真实气氛模拟单元及混合气体分流单元，可以实现模拟真实环境燃油车尾气颗粒形态演变协同热物性原位检测，该方法操作便捷、价格低、性价比高。通过获得燃油车尾气颗粒物在特定条件下实时失重率的实时形态演变，实现模拟燃油车尾气颗粒形态演变协同热物性的原位检测。