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公开(公告)号:CN119223932A
公开(公告)日:2024-12-31
申请号:CN202411759547.X
申请日:2024-12-03
Applicant: 北京林电伟业电子技术有限公司 , 中国计量科学研究院
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及设备校准技术领域,尤其涉及一种荧光显微镜计量校准方法及系统,通过设置检测端与主机连接,检测端设有标准光源及与物镜放大倍数匹配的微孔阵列板,以标准光源作为标准光源,主机以电信号控制其发光强度可调,采用微孔阵列板使得光源呈均匀透光、等刻度及梯度点阵排布,依次进行物镜放大率、成像均匀性、成像线性、光学线性校准,系统不仅具有可溯源性、可重复使用性、可控性,而且使用成本低,可靠性高;同时,通过对被测荧光显微镜的目镜放大率、光均匀性、成像线性、光学线性的逐步校准,确保了测量数据的准确可靠性。
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公开(公告)号:CN119223932B
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202411759547.X
申请日:2024-12-03
Applicant: 北京林电伟业电子技术有限公司 , 中国计量科学研究院
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及设备校准技术领域,尤其涉及一种荧光显微镜计量校准方法及系统,通过设置检测端与主机连接,检测端设有标准光源及与物镜放大倍数匹配的微孔阵列板,以标准光源作为标准光源,主机以电信号控制其发光强度可调,采用微孔阵列板使得光源呈均匀透光、等刻度及梯度点阵排布,依次进行物镜放大率、成像均匀性、成像线性、光学线性校准,系统不仅具有可溯源性、可重复使用性、可控性,而且使用成本低,可靠性高;同时,通过对被测荧光显微镜的目镜放大率、光均匀性、成像线性、光学线性的逐步校准,确保了测量数据的准确可靠性。
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