公开(公告)号：CN104730063A

公开(公告)日：2015-06-24

申请号：CN201310722968.0

申请日：2013-12-24

Applicant: 北京有色金属研究总院

Inventor： 张殿凯 ,  丁浩 ,  佟伶 ,  童坚

IPC: G01N21/71

Abstract: 本发明公开了属于合金检测技术领域的一种钨镧铈钇四元合金中镧、铈和钇的测定方法。本发明方法采用电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-AES）进行镧、铈和钇的测定，具有精密度高、选择性好、动态范围宽和简单易操作的优点。本方法通过硫酸-硫酸铵高温溶解样品，然后加入盐酸使钨完全水解并干过滤，可以有效的去除钨基体，达到消除背景和谱线干扰的目的，提高了测定准确度，能很好的满足钨镧铈钇四元合金中镧、铈和钇（质量分数0.1%～10.0%）的测定要求。

公开(公告)号：CN104568922A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201410843569.4

申请日：2014-12-30

Applicant: 北京有色金属研究总院

Inventor： 李甜 ,  刘英 ,  臧慕文 ,  童坚 ,  张殿凯

IPC: G01N21/73

Abstract: 本发明公开了一种锂硼合金中锂的测定方法。该方法包括步骤如下：对锂硼合金进行挥硼处理，得到待测试样；采用硫酸锂重量法测定待测试样中硫酸锂、硫酸镁和氧化硼的总质量；采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镁、硼含量，计算硫酸镁和氧化硼的质量；利用差减法得到待测试样中硫酸锂的质量，计算锂硼合金中锂含量。本发明的方法联合采用硫酸锂重量法、电感耦合等离子体原子发射光谱法，差减计算锂的含量，提高了测定准确度，能很好的满足锂硼合金中主成份锂量的测定要求；测定干扰少、精密度高、选择性好，简单易操作。

公开(公告)号：CN104515796A

公开(公告)日：2015-04-15

申请号：CN201310464663.4

申请日：2013-10-08

Applicant: 北京有色金属研究总院

Inventor： 张殿凯 ,  丁浩 ,  李满芝

IPC: G01N27/62

Abstract: 本发明公开了属于合金检测技术领域的一种冶金产品中痕量稀土杂质的测定方法，具体涉及一种钨镧合金中痕量Y、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Dy、Ho、Er、Tm、Yb和Lu的测定方法。本发明方法采用电感耦合等离子体质谱仪进行痕量稀土杂质元素的测定，精密度高、选择性好、检出限低，简单易操作，方法通过调节溶液pH值可以有效的去除钨基体并富集待测杂质元素，达到消除基体和背景干扰的目的，降低测定下限，能很好的满足钨镧合金中痕量稀土杂质（质量分数0.0005%～0.01%）的测定要求。