公开(公告)号：CN116226948B

公开(公告)日：2025-01-03

申请号：CN202211575217.6

申请日：2022-12-08

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 陈雷 ,  杨泽宇 ,  孙华波 ,  张帆 ,  刘映光 ,  李智 ,  王文锋 ,  方鑫 ,  郭洋

IPC: G06F30/10 ,  G06F30/20

Abstract: 本发明提供了一种SRAM型FPGA复杂IP核精准辐照评估方法，包括：(1)对重离子进行Geant4蒙特卡洛仿真；(2)对待测FPGA进行包含重离子物理特性的器件单元级TCAD仿真；(3)将仿真参数转化为spice网表，进行Pspice仿真；(4)将仿真所得敏感区域进行高精度激光试验；(5)对激光试验结果进行重离子效应修正，拟合重离子评估曲线。该方法通过软件仿真、激光细化、等效修正，对FPGA内复杂IP核进行精准辐照测试，实现对FPGA内嵌复杂IP核辐照效应精准评估。

公开(公告)号：CN116226948A

公开(公告)日：2023-06-06

申请号：CN202211575217.6

申请日：2022-12-08

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 陈雷 ,  杨泽宇 ,  孙华波 ,  张帆 ,  刘映光 ,  李智 ,  王文锋 ,  方鑫 ,  郭洋

IPC: G06F30/10 ,  G06F30/20

Abstract: 本发明提供了一种SRAM型FPGA复杂IP核精准辐照评估方法，包括：(1)对重离子进行Geant4蒙特卡洛仿真；(2)对待测FPGA进行包含重离子物理特性的器件单元级TCAD仿真；(3)将仿真参数转化为spice网表，进行Pspice仿真；(4)将仿真所得敏感区域进行高精度激光试验；(5)对激光试验结果进行重离子效应修正，拟合重离子评估曲线。该方法通过软件仿真、激光细化、等效修正，对FPGA内复杂IP核进行精准辐照测试，实现对FPGA内嵌复杂IP核辐照效应精准评估。

公开(公告)号：CN116148565A

公开(公告)日：2023-05-23

申请号：CN202211706610.4

申请日：2022-12-29

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 陈雷 ,  刘银萍 ,  孙华波 ,  张帆 ,  杨泽宇 ,  杨铭谦 ,  刘映光 ,  黄辉银 ,  吴沛辰 ,  周润辉

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明提供了一种高可靠低成本的低压大电流器件单粒子测试系统，采用定时刷新机制搭建可靠单粒子测试系统，且无需外加程控电源等供电设备，实现低压大电流复杂器件的电压和电流实时监控。系统包括上位机、主控系统、待测器件电源系统、待测系统。上位机负责试验过程控制和试验结果显示。主控系统负责接受上位机操作指令，监控待测器件电源系统，完成电压和电流监测，并控制待测系统完成单粒子效应评估。待测器件电源系统，由可回读输出电压和电流的电路构成，完成待测器件的供电。主控系统监控待测器件电源系统的输出电压和电流并判定和记录单粒子翻转、单粒子锁定和单粒子功能中断等，最终完成待测低压大电流复杂器件的单粒子效应评估。

公开(公告)号：CN114968738A

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202210493910.2

申请日：2022-04-29

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 刘银萍 ,  陈雷 ,  孙华波 ,  张帆 ,  杨铭谦 ,  刘莹 ,  董亚宁 ,  刘映光 ,  杨安予 ,  杨泽宇

IPC: G06F11/34 ,  G06F11/22 ,  G06F13/28 ,  G06F13/42

Abstract: 一种FPGA高速串行收发器单粒子效应性能评估系统及方法，评估系统包括上位机、主控系统和待测系统。上位机负责试验过程控制和试验结果显示。主控系统负责接受上位机操作指令，控制待测系统完成单粒子效应评估。待测系统中FPGA，用部分暴露在粒子束下的方式，完成高速串行收发器单粒子试验。利用统计学方法定义单粒子翻转、可恢复单粒子功能中断和不可恢复单粒子功能中断，最终完成待测FPGA高速串行收发器的单粒子效应评估。本发明是一种系统级的单粒子效应评估方法，包含单粒子翻转、单粒子功能中断，有效的全面评估器件抗单粒子性能。

公开(公告)号：CN112557885A

公开(公告)日：2021-03-26

申请号：CN202011451798.3

申请日：2020-12-09

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 朱志强 ,  李学武 ,  陈雷 ,  刘怀锋 ,  杨泽宇 ,  刘映光

IPC: G01R31/317

Abstract: 本发明提供了一种基于内置温度监测器的FPGA单粒子闩锁效应测试系统及方法，该测试系统包括上位机和测试板；上位机负责流程控制和数据处理；测试板包括控制处理FPGA、配置FLASH、DDR存储器以及被测FPGA；测试板负责完成被测FPGA的配置，同时完成被测FPGA结温和工作电流的监测，最终得到被测FPGA指定结温条件下闩锁阈值。本发明通过将被测FPGA配置成移位寄存器链功能进行自加热，充分利用被测FPGA内部集成的温度监测器持续监测被测FPGA结温，达到指定结温条件后，控制处理FPGA实时监测被测FPGA工作电流，最终获得被测FPGA指定结温条件下的闩锁阈值。

公开(公告)号：CN112557885B

公开(公告)日：2023-08-08

申请号：CN202011451798.3

申请日：2020-12-09

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 朱志强 ,  李学武 ,  陈雷 ,  刘怀锋 ,  杨泽宇 ,  刘映光

IPC: G01R31/317

Abstract: 本发明提供了一种基于内置温度监测器的FPGA单粒子闩锁效应测试系统及方法，该测试系统包括上位机和测试板；上位机负责流程控制和数据处理；测试板包括控制处理FPGA、配置FLASH、DDR存储器以及被测FPGA；测试板负责完成被测FPGA的配置，同时完成被测FPGA结温和工作电流的监测，最终得到被测FPGA指定结温条件下闩锁阈值。本发明通过将被测FPGA配置成移位寄存器链功能进行自加热，充分利用被测FPGA内部集成的温度监测器持续监测被测FPGA结温，达到指定结温条件后，控制处理FPGA实时监测被测FPGA工作电流，最终获得被测FPGA指定结温条件下的闩锁阈值。