一种基于片上嵌入式微系统的SIP模块测试方法

    公开(公告)号:CN106814305B

    公开(公告)日:2019-06-04

    申请号:CN201611205402.0

    申请日:2016-12-23

    Abstract: 一种基于片上嵌入式微系统的SIP模块测试方法,首先利用SIP模块内部的CPU单元,对所有存储器单元的全部地址进行读写操作,以测试存储器单元的正确性;然后对SIP模块内部CPU单元进行内部封闭自测试和外部辅助测试,以验证CPU单元的正确性;最后通过内部CPU单元和外部FPGA对SIP模块内部FPGA进行测试。本发明方法在不提高SIP模块设计复杂度的基础上,有效的对SIP模块功能、内部互联进行测试,最大程度上满足了SIP模块全测试覆盖的需求,在保证SIP模块正确性的基础上,提高了测试效率。

    一种基于SIP模块的老炼方法

    公开(公告)号:CN103823139A

    公开(公告)日:2014-05-28

    申请号:CN201410067879.1

    申请日:2014-02-27

    Abstract: 本发明涉及一种基于SIP模块的老炼方法,在老炼箱中实现,本发明基于含处理器模块CPU、程序运行空间模块、FPGA、非易失性存储器FLASH的SIP模块,设计了一种将老炼程序烧写入SIP模块,上电程序自动运行,并自动对FPGA模块配置,老炼过程中通过各个模块的运行、访问、控制均在被测的SIP模块内部执行的老炼方法,其中SIP模块与老炼箱之间连接电路简单,本发明方法充分利用SIP模块自身功能实现了SIP模块的老炼,大大减小了SIP模块与老炼系统之间连接电路的复杂性,降低老炼过程中外围电路对SIP模块的影响,同时也方便了故障分析。

    基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法

    公开(公告)号:CN108319526B

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN201711363686.0

    申请日:2017-12-18

    Abstract: 一种基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法,针对微系统芯片内部FPGA资源进行测试。考虑单片FPGA资源利用率的限制,每种待测资源分别对应多个测试文件,所有测试文件存储于嵌入式微系统存储器中。依据测试顺序,通过嵌入式微系统内部处理器模拟SelectMAP时序将测试文件分时加载。测试文件还可通过内部处理器实现在线更新。测试过程中对应的FPGA输入输出信号亦由微系统内部处理器提供或检测。本发明方法依靠微系统芯片自身资源实现对微系统内部FPGA的功能测试,无需外部复杂的控制和存储器件,亦不需要大型测试设备,极大简化了系统设计。采用SelectMap模式加载,测试效率得到大幅提高。测试文件还可在线更新,使得测试系统更加灵活。

    一种SoPC芯片自主重构软配置方法

    公开(公告)号:CN104461620A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201410708138.7

    申请日:2014-11-27

    Abstract: 一种SoPC芯片自主重构软配置方法,对SoPC芯片的自重构软配置电路技术进行研究,提出了一种SoPC芯片自主重构软配置方法,本发明方法充分利用配置接口可控性的特征,将处理器的GPIO接口与FPGA芯片的配置接口相连,构建物理数据通路和配置链路,通过控制GPIO接口的信号输出、采集和通过接口电平变化实现配置时序和配置数据,完成自重构操作。本发明方法与传统的重构配置方法相比无需在SoPC芯片添加FPGA专用的配置芯片即可实现系统的自主重构操作,有效的减小了SoPC芯片的体积,同时SoPC芯片内部用于控制实现自主重构操作的信号少,降低了设计复杂度。

    一种基于SIP模块的老炼方法

    公开(公告)号:CN103823139B

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201410067879.1

    申请日:2014-02-27

    Abstract: 本发明涉及一种基于SIP模块的老炼方法,在老炼箱中实现,本发明基于含处理器模块CPU、程序运行空间模块、FPGA、非易失性存储器FLASH的SIP模块,设计了一种将老炼程序烧写入SIP模块,上电程序自动运行,并自动对FPGA模块配置,老炼过程中通过各个模块的运行、访问、控制均在被测的SIP模块内部执行的老炼方法,其中SIP模块与老炼箱之间连接电路简单,本发明方法充分利用SIP模块自身功能实现了SIP模块的老炼,大大减小了SIP模块与老炼系统之间连接电路的复杂性,降低老炼过程中外围电路对SIP模块的影响,同时也方便了故障分析。

    一种SoPC芯片自主重构软配置方法

    公开(公告)号:CN104461620B

    公开(公告)日:2017-12-29

    申请号:CN201410708138.7

    申请日:2014-11-27

    Abstract: 一种SoPC芯片自主重构软配置方法,对SoPC芯片的自重构软配置电路技术进行研究,提出了一种SoPC芯片自主重构软配置方法,本发明方法充分利用配置接口可控性的特征,将处理器的GPIO接口与FPGA芯片的配置接口相连,构建物理数据通路和配置链路,通过控制GPIO接口的信号输出、采集和通过接口电平变化实现配置时序和配置数据,完成自重构操作。本发明方法与传统的重构配置方法相比无需在SoPC芯片添加FPGA专用的配置芯片即可实现系统的自主重构操作,有效的减小了SoPC芯片的体积,同时SoPC芯片内部用于控制实现自主重构操作的信号少,降低了设计复杂度。

    一种基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法

    公开(公告)号:CN108319526A

    公开(公告)日:2018-07-24

    申请号:CN201711363686.0

    申请日:2017-12-18

    Abstract: 一种基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法,针对微系统芯片内部FPGA资源进行测试。考虑单片FPGA资源利用率的限制,每种待测资源分别对应多个测试文件,所有测试文件存储于嵌入式微系统存储器中。依据测试顺序,通过嵌入式微系统内部处理器模拟SelectMAP时序将测试文件分时加载。测试文件还可通过内部处理器实现在线更新。测试过程中对应的FPGA输入输出信号亦由微系统内部处理器提供或检测。本发明方法依靠微系统芯片自身资源实现对微系统内部FPGA的功能测试,无需外部复杂的控制和存储器件,亦不需要大型测试设备,极大简化了系统设计。采用SelectMap模式加载,测试效率得到大幅提高。测试文件还可在线更新,使得测试系统更加灵活。

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