混合信号处理微系统模拟开关和ADC单元的测试系统及方法

    公开(公告)号:CN119916173A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202411882864.0

    申请日:2024-12-19

    Abstract: 混合信号处理微系统模拟开关和ADC单元的测试系统及方法,属于集成电路测试领域;包括上位机和测试板;测试板包括电源模块、测试信号源模块、显示模块、微系统辅助电路、外置存储模块和混合信号处理微系统;混合信号处理微系统包括模拟开关、ADC单元、存储单元和FPGA单元。模拟开关控制ADC单元接收模拟信号的通道;ADC单元采集测试信号源模块产生的模拟信号并将其转换为数字信号;FPGA单元对模拟开关和ADC单元进行控制,读取ADC单元状态信息并采集和处理其输出的数字信号;存储单元存储FPGA配置程序;外置存储模块存储测试数据;显示模块显示测试状态信息;上位机控制测试流程,读取和处理外置存储模块中的数据,得到ADC单元和模拟开关的性能参数。

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