一种晶体振荡器电性能测试系统

    公开(公告)号:CN108957282A

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201811172710.7

    申请日:2018-10-09

    CPC classification number: G01R31/2601

    Abstract: 本申请实施例中提供了一种晶体振荡器电性能测试系统,该系统包括:第一电源接口,用于接入测试电源;第二电源接口,用于接入加电预热电源;多个通断切换模块,基于第一外部控制信号,连接或断开待测试晶体振荡器;选择测试模块,选择待测试晶体振荡器,并对其进行测试项目匹配;多个匹配接口,用于与外部测试仪器连接,并根据所述测试项目匹配与外部测试仪器进行信号传输。本方案通过采用计算机自动控制和多通道良好隔离的方式,实现了多种晶体振荡器的多性能参数的批量测试,并且可方便的进行测试设备及测试晶体振荡器数量的扩展,有效降低了人工操作的复杂度,提高了测试精度和测试效率。

    一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具

    公开(公告)号:CN112649680B

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202011558279.7

    申请日:2020-12-25

    Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具,该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板,壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽,凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔,振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔,插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针,振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板,将电源线、测试电缆线与电路板相连,而非直接与被测晶体振荡器连接,连接更为稳固可靠,减少了线缆软连接引入的噪声干扰,提升了测试可靠性。

    一种用于石英谐振器的测试电路及测试装置

    公开(公告)号:CN109239568B

    公开(公告)日:2020-12-22

    申请号:CN201811220647.X

    申请日:2018-10-19

    Abstract: 本发明公开一种用于石英谐振器的测试电路及测试装置,所述电路包括:可接入石英谐振器参数测试夹具的第一信号端和第二信号端,频率调节模块、频率展宽网络模块、压控或电调网络模块以及抑制网络模块,待测石英谐振器连接在所述频率调节模块和所述频率展宽网络模块之间。本发明通过将晶体振荡器振荡回路中的实际元件串联在石英谐振器支路中,达到真实模拟石英谐振器负载情况的目的,拓展了商用石英谐振器测试装置中的负载种类,可提高判断石英谐振器是否适用的准确性,并且,本发明的电路可以通过短接等手段使得部分元件失效,从而可以模拟不同的真实环境,进而具有更广的适用性,最后本发明的装置简便易操作,准确性高,具有较强的实用性。

    一种用于石英谐振器的测试电路及测试装置

    公开(公告)号:CN109239568A

    公开(公告)日:2019-01-18

    申请号:CN201811220647.X

    申请日:2018-10-19

    CPC classification number: G01R31/2607

    Abstract: 本发明公开一种用于石英谐振器的测试电路及测试装置,所述电路包括:可接入石英谐振器参数测试夹具的第一信号端和第二信号端,频率调节模块、频率展宽网络模块、压控或电调网络模块以及抑制网络模块,待测石英谐振器连接在所述频率调节模块和所述频率展宽网络模块之间。本发明通过将晶体振荡器振荡回路中的实际元件串联在石英谐振器支路中,达到真实模拟石英谐振器负载情况的目的,拓展了商用石英谐振器测试装置中的负载种类,可提高判断石英谐振器是否适用的准确性,并且,本发明的电路可以通过短接等手段使得部分元件失效,从而可以模拟不同的真实环境,进而具有更广的适用性,最后本发明的装置简便易操作,准确性高,具有较强的实用性。

    一种晶体振荡器电性能测试系统

    公开(公告)号:CN108957282B

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN201811172710.7

    申请日:2018-10-09

    Abstract: 本申请实施例中提供了一种晶体振荡器电性能测试系统,该系统包括:第一电源接口,用于接入测试电源;第二电源接口,用于接入加电预热电源;多个通断切换模块,基于第一外部控制信号,连接或断开待测试晶体振荡器;选择测试模块,选择待测试晶体振荡器,并对其进行测试项目匹配;多个匹配接口,用于与外部测试仪器连接,并根据所述测试项目匹配与外部测试仪器进行信号传输。本方案通过采用计算机自动控制和多通道良好隔离的方式,实现了多种晶体振荡器的多性能参数的批量测试,并且可方便的进行测试设备及测试晶体振荡器数量的扩展,有效降低了人工操作的复杂度,提高了测试精度和测试效率。

    一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具

    公开(公告)号:CN112649680A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN202011558279.7

    申请日:2020-12-25

    Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具,该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板,壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽,凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔,振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔,插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针,振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板,将电源线、测试电缆线与电路板相连,而非直接与被测晶体振荡器连接,连接更为稳固可靠,减少了线缆软连接引入的噪声干扰,提升了测试可靠性。

    一种晶振恒温结构和安装方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117651397A

    公开(公告)日:2024-03-05

    申请号:CN202311588701.7

    申请日:2023-11-24

    Abstract: 本申请公开了一种晶振恒温结构和安装方法,解决了现有技术恒温晶振的频率温度稳定度指标差问题。一种晶振恒温结构,包含槽体、加热功率器件。所述槽体内部设置有相邻的第一密封腔和第二密封腔。所述第一密封腔,用于设置晶体谐振器。所述第二密封腔,用于设置加热功率器件。本申请加热功率器件在槽体内部,因此全部加热功耗都用来加热槽体,提高了加热效率,在相同的控制温度下,利于降低晶振功耗。同时,晶体谐振器及热敏器件也处于恒温结构内部,而槽体及上盖均采用了高热导率的金属材料,内部热梯度较小,热分布均匀,利于改善晶振的频率温度稳定度指标。

    一种晶体振荡器
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116667789A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310507428.4

    申请日:2023-05-06

    Abstract: 本申请公开了一种晶体振荡器,解决了现有技术中晶体振荡器体积缩小导致噪声大的问题。一种晶体振荡器,包含底座、基板或电路板、上盖、晶体或晶片、第一元件、第二元件和引脚。底座为上不封顶的盒体。底座的侧壁有台阶结构,内侧壁的高度小于外侧壁。基板固定设置在台阶结构上将盒体内部分为上空腔和下空腔。所述上盖密封设置在侧壁的上沿封闭盒体。所述第一元件固定设置在上空腔。所述第二元件固定设置在下空腔。若用晶体,则放置在上空腔或下空腔中,若用晶片则放置在上空腔。本申请的晶体振荡器兼具小体积、低相噪和高稳定等特点,可以实现小型化高性能指标要求和表贴封装要求,并且整体结构连接可靠,具有较高的机械和电连接可靠性。

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