公开(公告)号：CN117289027A

公开(公告)日：2023-12-26

申请号：CN202311126113.1

申请日：2023-09-01

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 严颖辉 ,  周海洋 ,  刘庆山 ,  王亘 ,  殷彤

IPC: G01R27/08

Abstract: 本申请公开了一种电阻检测回路及方法，解决了现有技术多电压求解法计算的待测电阻阻值精度和稳定性差的问题。电阻检测回路，包含第一测试模块、AD检测模块、基准模块和标称电阻。第一测试模块，包含第一电压检测单元和第二电压检测单元。第一电压检测单元用于检测输入端连接待测电阻+标称电阻两端的电压。第二电压检测单元用于检测输入端连接标称电阻两端的电压。AD检测模块，用于第一电压检测单元和第二电压检测单元检测结果的读取，并通过差值计算待测电阻的阻值。本申请有效减小仪表放大器失调电压对测量结果的影响。通过一次采集就能得到待测电阻上的电压值，极大地提高了电路的抗干扰能力，保证测试的准确性和稳定性。

公开(公告)号：CN117148749A

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202310827725.7

申请日：2023-07-06

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 杨洪泰 ,  王亘 ,  严颖辉 ,  周海洋 ,  刘庆山

IPC: G05B19/042

Abstract: 本申请公开了一种基于EMIF总线和FPGA的采样系统及采样方法，系统包括：控制器MCU、FPGA，以及至少两个ADC芯片；MCU与FPGA之间通过EMIF总线通信，包括：采样过程配置模块、采样启停模块、更新完毕通知模块、数据查询模块，其中：采样过程配置模块完成采样过程的配置信息的通信；采样启停模块完成发送开启采样流程信息和关闭采样流程信息；更新完毕通知模块完成传递数据更新完毕的信息；数据查询模块完成发送查询采样值的信息；FPGA与ADC芯片之间通过SPI总线通信。本申请通过程序控制，可控制实现不同的采样通道的不同采样速率。采样系统工作模式可通过程序配置，可以通用于不同的应用场景。