公开(公告)号：CN104579314B

公开(公告)日：2018-05-01

申请号：CN201410844496.0

申请日：2014-12-30

Applicant: 北京控制工程研究所

Inventor： 刘鸿瑾 ,  杨孟飞 ,  华更新 ,  杨桦 ,  刘波 ,  龚健 ,  董暘暘 ,  张绍林 ,  王靖 ,  彭飞 ,  赵云富

IPC: H03K19/177

Abstract: 本发明提供一种针对SRAM型FPGA的可靠性优化方法，该方法包括如下步骤：以查找表LUT为单位，建立含有逻辑屏蔽效应的功能等价类；对网表中各查找表的可靠性进行评估；根据可靠性评估的结果，对于电路中输入地址线未完全使用的查找表，进行可靠性优化；对优化后的电路可靠性进行评估，计算优化效果；本发明充分利用FPGA电路中存在的空闲资源，在不带来额外面积开销的前提下有效提高电路可靠性，并且具有计算复杂度低，对电路性能影响小，不依赖于特定FPGA芯片物理结构，应用范围广等特点。

公开(公告)号：CN104579314A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201410844496.0

申请日：2014-12-30

Applicant: 北京控制工程研究所

Inventor： 刘鸿瑾 ,  杨孟飞 ,  华更新 ,  杨桦 ,  刘波 ,  龚健 ,  董暘暘 ,  张绍林 ,  王靖 ,  彭飞 ,  赵云富

IPC: H03K19/177

Abstract: 本发明提供一种针对SRAM型FPGA的可靠性优化方法，该方法包括如下步骤：以查找表LUT为单位，建立含有逻辑屏蔽效应的功能等价类；对网表中各查找表的可靠性进行评估；根据可靠性评估的结果，对于电路中输入地址线未完全使用的查找表，进行可靠性优化；对优化后的电路可靠性进行评估，计算优化效果；本发明充分利用FPGA电路中存在的空闲资源，在不带来额外面积开销的前提下有效提高电路可靠性，并且具有计算复杂度低，对电路性能影响小，不依赖于特定FPGA芯片物理结构，应用范围广等特点。