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公开(公告)号：CN118363715B
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202410536232.2
申请日：2024-04-29
Applicant: 北京开源芯片研究院
Abstract: 本发明实施例提供一种参考模型的集成方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取验证对象的参考模型和所述参考模型的数据传输参数；将所述参考模型加载到所述软件模拟器中；按照所述验证对象的指令集架构和所述数据传输参数，配置通信控制指令；所述通信控制指令包括加载指令和存储指令；执行所述加载指令，以将所述软件模拟器的虚拟内存中的测试激励数据加载到所述参考模型的缓冲区中；在所述参考模型生成运算结果之后，执行所述存储指令，以将所述运算结果存储至所述软件模拟器的虚拟内存中。本发明实施例实现了参考模型在软件模拟器中的自动集成，有利于提升对验证对象的验证效率。
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公开(公告)号：CN118363715A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410536232.2
申请日：2024-04-29
Applicant: 北京开源芯片研究院
Abstract: 本发明实施例提供一种参考模型的集成方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取验证对象的参考模型和所述参考模型的数据传输参数；将所述参考模型加载到所述软件模拟器中；按照所述验证对象的指令集架构和所述数据传输参数，配置通信控制指令；所述通信控制指令包括加载指令和存储指令；执行所述加载指令，以将所述软件模拟器的虚拟内存中的测试激励数据加载到所述参考模型的缓冲区中；在所述参考模型生成运算结果之后，执行所述存储指令，以将所述运算结果存储至所述软件模拟器的虚拟内存中。本发明实施例实现了参考模型在软件模拟器中的自动集成，有利于提升对验证对象的验证效率。
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公开(公告)号：CN118395917A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410536222.9
申请日：2024-04-29
Applicant: 北京开源芯片研究院
IPC: G06F30/331 , G06F30/398 , G06F115/10
Abstract: 本发明实施例提供一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质，该方法包括：获取待测设计对应的数据传输参数、基准测试程序和参考模型；将待测设计烧录到可编程逻辑芯片的可编程逻辑区域，并将参考模型加载到可编程逻辑芯片的处理系统中；将基准测试程序中的各条指令按照所述数据传输参数和预置的通信控制指令对应的编码格式，重新进行编码，得到目标测试程序；控制所述待测设计和所述参考模型分别执行所述目标测试程序；获取所述待测设计的第一执行结果和所述参考模型的第二执行结果；在所述第一执行结果和所述第二执行结果不匹配的情况下，确定所述待测设计运行出错。本发明实施例简化了待测设计的验证过程，提升了验证效率。
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公开(公告)号：CN118395917B
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202410536222.9
申请日：2024-04-29
Applicant: 北京开源芯片研究院
IPC: G06F30/331 , G06F30/398 , G06F115/10
Abstract: 本发明实施例提供一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质，该方法包括：获取待测设计对应的数据传输参数、基准测试程序和参考模型；将待测设计烧录到可编程逻辑芯片的可编程逻辑区域，并将参考模型加载到可编程逻辑芯片的处理系统中；将基准测试程序中的各条指令按照所述数据传输参数和预置的通信控制指令对应的编码格式，重新进行编码，得到目标测试程序；控制所述待测设计和所述参考模型分别执行所述目标测试程序；获取所述待测设计的第一执行结果和所述参考模型的第二执行结果；在所述第一执行结果和所述第二执行结果不匹配的情况下，确定所述待测设计运行出错。本发明实施例简化了待测设计的验证过程，提升了验证效率。
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