-
公开(公告)号：CN117709253B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410145891.3
申请日：2024-02-01
Applicant: 北京开源芯片研究院
IPC: G06F30/33 , G06F30/337
Abstract: 本申请提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及芯片开发技术领域，方法包括：在仿真器中搭建芯片测试系统，通过虚拟处理器，向第一虚拟内存控制器发送第一读操作指令，通过第一虚拟内存控制器，调度第一操作指令并发送至虚拟端口物理层；通过虚拟端口物理层，从第二虚拟存储器中读取数据并进行信号转换处理，以得到信号转换处理的读取值并存入第一虚拟存储器；响应于虚拟处理器发送给第二虚拟内存控制器的第二读操作指令，从第一虚拟存储器中提取读取值，以根据读取值，确定虚拟芯片的功能是否达到预设的芯片功能设计要求。本申请的方法，可以同时测试芯片的处理器及内存控制器的性能。
-
公开(公告)号：CN117688878B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410145294.0
申请日：2024-02-01
Applicant: 北京开源芯片研究院
IPC: G06F30/33 , G06F30/337
Abstract: 本申请提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及芯片开发技术领域，方法包括：在仿真器中搭建芯片测试系统，响应于虚拟处理器向虚拟内存控制器发送的读操作指令，通过虚拟协议转换器根据虚拟端口物理层的通信协议，对读操作指令进行协议转换，将协议转换后的读操作指令发送至虚拟端口物理层；通过虚拟端口物理层，从第二虚拟存储器中读取数据并进行信号转换处理，得到信号转换处理的读取值并存入第一虚拟存储器；通过虚拟内存控制器，从第一虚拟存储器中提取读取值，以根据读取值，确定虚拟芯片的功能是否达到预设的芯片功能设计要求。本申请的方法，可以同时对芯片的处理器及内存控制器进行测试。
-
公开(公告)号：CN117709253A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202410145891.3
申请日：2024-02-01
Applicant: 北京开源芯片研究院
IPC: G06F30/33 , G06F30/337
Abstract: 本申请提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及芯片开发技术领域，方法包括：在仿真器中搭建芯片测试系统，通过虚拟处理器，向第一虚拟内存控制器发送第一读操作指令，通过第一虚拟内存控制器，调度第一操作指令并发送至虚拟端口物理层；通过虚拟端口物理层，从第二虚拟存储器中读取数据并进行信号转换处理，以得到信号转换处理的读取值并存入第一虚拟存储器；响应于虚拟处理器发送给第二虚拟内存控制器的第二读操作指令，从第一虚拟存储器中提取读取值，以根据读取值，确定虚拟芯片的功能是否达到预设的芯片功能设计要求。本申请的方法，可以同时测试芯片的处理器及内存控制器的性能。
-
公开(公告)号：CN117688878A
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202410145294.0
申请日：2024-02-01
Applicant: 北京开源芯片研究院
IPC: G06F30/33 , G06F30/337
Abstract: 本申请提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及芯片开发技术领域，方法包括：在仿真器中搭建芯片测试系统，响应于虚拟处理器向虚拟内存控制器发送的读操作指令，通过虚拟协议转换器根据虚拟端口物理层的通信协议，对读操作指令进行协议转换，将协议转换后的读操作指令发送至虚拟端口物理层；通过虚拟端口物理层，从第二虚拟存储器中读取数据并进行信号转换处理，得到信号转换处理的读取值并存入第一虚拟存储器；通过虚拟内存控制器，从第一虚拟存储器中提取读取值，以根据读取值，确定虚拟芯片的功能是否达到预设的芯片功能设计要求。本申请的方法，可以同时对芯片的处理器及内存控制器进行测试。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.03 seconds)
