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公开(公告)号:CN116068384A
公开(公告)日:2023-05-05
申请号:CN202310144688.X
申请日:2023-02-07
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司
IPC: G01R31/317 , G01R31/3181
Abstract: 本申请提供了一种测试电路板的方法及装置,涉及仪器控制技术领域。测试设备首先响应于对电路板进行测试的请求,控制上位机中的测试软件进入电路板测试配置界面;然后测试设备响应于运维人员基于电路板测试配置界面设置的测试参数,通过目标电路板对应的测试系统上预置的测试接口,向目标电路板输入测试信号;再根据测试参数及输入的测试信号,利用下位机对目标电路板进行测试;最后展示基于测试信号得到的测试结果。这样,利用上位机向目标电路板对应的测试系统上预置的测试接口输入测试信号,并利用下位机完成对电路板的测试,不需要将电路板进行拆卸以进行测试,进而避免了电路板多次插拔可能会对电路板和机柜接口造成不可逆的损伤的问题。
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公开(公告)号:CN118605452A
公开(公告)日:2024-09-06
申请号:CN202410793174.1
申请日:2024-06-19
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本申请公开了一种核电站数字化仪控系统的测试方法及系统,对通过n路IO输出通道输出的多个激励信号进行组合处理,得到多个组合,每个组合由存在组合逻辑的至少2个阶跃变化的激励信号组成,或者由不存在组合的阶跃变化的激励信号组成,控制测试信号站的板卡输出组合所包含的激励信号,及同步输出与组合相应的触发源信号;每个组合对应一个触发源信号,根据任意一个触发源信号进行信号采集,得到核电站DCS信号,通过预先配置的计算参数,对核电站DCS信号进行计算,得到核电站DCS的响应时间,根据预设测试方式测试响应时间是否符合标准,得到测试结果并记录。
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公开(公告)号:CN118067426A
公开(公告)日:2024-05-24
申请号:CN202410214265.5
申请日:2024-02-27
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司
IPC: G01M99/00 , G06V10/14 , G05B19/418
Abstract: 本发明提供一种CIS‑V设备的测试方法及装置,应用于处理器,处理器连接CIS‑V设备和摄像头,摄像头对准CIS‑V设备中的面板指示灯,测试方法包括:控制CIS‑V设备模拟长期运行工况,针对CIS‑V设备进行长期运行工况对应的测试策略,接收CIS‑V设备的输出信号和摄像头实时采集的面板指示灯图像,识别面板指示灯图像得到CIS‑V设备的运行状态,基于运行状态和输出信号确定CIS‑V设备是否正常。在本方案中,在长期模拟工况下自动对CIS‑V设备进行相应的测试策略,并利用摄像头实时采集面板指示灯进行识别,从而捕捉人眼难以发现的故障,以实现提高发现故障效率,节省人力物力的目的。
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