公开(公告)号：CN115082544B

公开(公告)日：2024-10-11

申请号：CN202210483925.0

申请日：2022-05-05

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 赖永康 ,  李伟华 ,  穆西晗 ,  邹杰 ,  边越群 ,  胡容海 ,  谢东辉 ,  阎广建

IPC: G06T7/62 ,  G06F17/11

Abstract: 本发明涉及植被参数测量技术领域，公开了一种叶面积指数确定方法、装置、设备和介质。该方法包括：获取对叶面积指数进行间接测量所得的一维样线数据，并基于一维样线数据和盒子计数法，确定一维样线数据对应的一维分维数；其中，一维分维数用于表征叶片分布特征；将一维分维数、叶片投影函数值、样线长度、一维样线数据对应的样线间隙率和叶片半径，输入目标聚集指数模型，确定一维样线数据对应的样线聚集指数；将样线聚集指数、叶片投影函数值和样线间隙率，输入间隙率模型，确定一维样线数据对应的样线叶面积指数。通过上述技术方案，对LAI间接测量方法中的聚集效应进行了较为充分的纠正，从而提高了叶面积指数的测量精准度。

公开(公告)号：CN115082544A

公开(公告)日：2022-09-20

申请号：CN202210483925.0

申请日：2022-05-05

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 赖永康 ,  李伟华 ,  穆西晗 ,  邹杰 ,  边越群 ,  胡容海 ,  谢东辉 ,  阎广建

IPC: G06T7/62 ,  G06F17/11

Abstract: 本发明涉及植被参数测量技术领域，公开了一种叶面积指数确定方法、装置、设备和介质。该方法包括：获取对叶面积指数进行间接测量所得的一维样线数据，并基于一维样线数据和盒子计数法，确定一维样线数据对应的一维分维数；其中，一维分维数用于表征叶片分布特征；将一维分维数、叶片投影函数值、样线长度、一维样线数据对应的样线间隙率和叶片半径，输入目标聚集指数模型，确定一维样线数据对应的样线聚集指数；将样线聚集指数、叶片投影函数值和样线间隙率，输入间隙率模型，确定一维样线数据对应的样线叶面积指数。通过上述技术方案，对LAI间接测量方法中的聚集效应进行了较为充分的纠正，从而提高了叶面积指数的测量精准度。