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公开(公告)号:CN103344645B
公开(公告)日:2016-01-13
申请号:CN201310285581.3
申请日:2013-07-09
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N21/84
Abstract: 本发明公开了一种多通道窄波段设置的波谱反照率测量装置。所述波谱反照率测量装置包括一壳体和分别设置于所述壳体的顶部和底部上的向上观测传感器和向下观测传感器;所述向上观测传感器和所述向下观测传感器均包括余弦矫正器、滤光片和探测器;所述向上观测传感器中,所述余弦矫正器、所述滤光片和所述探测器由上至下依次设置;所述向下观测传感器中,所述余弦矫正器、所述滤光片和所述探测器由下至上依次设置。本发明可以精确测定与卫星传感器波谱响应一致的窄波段波谱反照率,为卫星产品的验证提供直接的验证设备和数据;采用的余弦校正器可以有效降低传感器的余弦误差;本发明为一体式的上下两个传感器,可以简化设备,便于防水和安装。
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公开(公告)号:CN103344645A
公开(公告)日:2013-10-09
申请号:CN201310285581.3
申请日:2013-07-09
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N21/84
Abstract: 本发明公开了一种多通道窄波段设置的波谱反照率测量装置。所述波谱反照率测量装置包括一壳体和分别设置于所述壳体的顶部和底部上的向上观测传感器和向下观测传感器;所述向上观测传感器和所述向下观测传感器均包括余弦矫正器、滤光片和探测器;所述向上观测传感器中,所述余弦矫正器、所述滤光片和所述探测器由上至下依次设置;所述向下观测传感器中,所述余弦矫正器、所述滤光片和所述探测器由下至上依次设置。本发明可以精确测定与卫星传感器波谱响应一致的窄波段波谱反照率,为卫星产品的验证提供直接的验证设备和数据;本发明采用的余弦校正器可以有效降低传感器的余弦误差;本发明为一体式的上下两个传感器,可以简化设备,便于防水和安装。
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公开(公告)号:CN203396709U
公开(公告)日:2014-01-15
申请号:CN201320404991.0
申请日:2013-07-09
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N21/84
Abstract: 本实用新型公开了一种多通道窄波段设置的波谱反照率测量装置。所述波谱反照率测量装置包括一壳体和分别设置于所述壳体的顶部和底部上的向上观测传感器和向下观测传感器;所述向上观测传感器和所述向下观测传感器均包括余弦矫正器、滤光片和探测器;向上观测传感器中,所述余弦矫正器、所述滤光片和所述探测器由上至下依次设置;向下观测传感器中,所述余弦矫正器、所述滤光片和所述探测器由下至上依次设置。本实用新型可以精确测定与卫星传感器波谱响应一致的窄波段波谱反照率,为卫星产品的验证提供直接的验证设备和数据;本实用新型采用的余弦校正器可以有效降低传感器的余弦误差;本实用新型为一体式的上下两个传感器,可以简化设备,便于防水和安装。
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