一种测量系统及方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109884116B

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201910301909.3

    申请日:2019-04-16

    Abstract: 本发明涉及一种测量系统及方法,该测量系统包括:主机;基座,该基座下面有三个圆孔,用外罩的螺丝把基座固定在该主机上,基座的上半部是螺纹公口,基座安装好后的高度和传感器底部持平;外罩,该外罩包括:一个带母口罗圈的挡板,挡板高度和宽度可选,通过选择不同高度和宽度的挡板,可实现不同角度遮蔽;一个母口罗圈遮挡罩,罗圈高度可调,通过安装不同罗圈实现视场角的限定。通过该系统进行测量,该系统及方法用于特定角度遮蔽和不同视场角的限定,屏蔽铁塔、支架和环境等因素对测量信号的干扰,解决在地表反照率地面精确测量中由于支架和环境因素造成的测量不准确问题,得到地表反照率的代表性真值。

    一种测量系统及方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109884116A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201910301909.3

    申请日:2019-04-16

    Abstract: 本发明涉及一种测量系统及方法,该测量系统包括:主机;基座,该基座下面有三个圆孔,用外罩的螺丝把基座固定在该主机上,基座的上半部是螺纹公口,基座安装好后的高度和传感器底部持平;外罩,该外罩包括:一个带母口罗圈的挡板,挡板高度和宽度可选,通过选择不同高度和宽度的挡板,可实现不同角度遮蔽;一个母口罗圈遮挡罩,罗圈高度可调,通过安装不同罗圈实现视场角的限定。通过该系统进行测量,该系统及方法用于特定角度遮蔽和不同视场角的限定,屏蔽铁塔、支架和环境等因素对测量信号的干扰,解决在地表反照率地面精确测量中由于支架和环境因素造成的测量不准确问题,得到地表反照率的代表性真值。

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