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公开(公告)号:CN109166819A
公开(公告)日:2019-01-08
申请号:CN201810838959.0
申请日:2018-07-27
Applicant: 北京工业大学
IPC: H01L21/768 , H01L21/67
Abstract: 一种用于熔融钎料填充硅通孔的装置涉及半导体器件制造技术领域。硅通孔的填充技术是三维集成的核心关键技术。目前硅通孔填充材料以铜为主,但是存在成本与可靠性等众多问题,而钎料填充工艺不仅成本低廉且材料本身热膨胀系数适宜,具有研究潜力。本专利中,为低成本通孔填充工艺开发了一种新型熔融钎料填充设备,装置包括密封罐罐体、加热块、抽真空系统、冷却水循环系统、真空计等。采用加热炉加热密封罐体,可以控制加热钎料的温度与加热速度。除此之外,利用罐体上方密封盖与真空泵控制罐内压力大小。通过此设备可以完成8寸至12寸TSV硅晶圆钎料的填充,有效地解决了如何使用钎料高效填充TSV的问题,完善钎料填充TSV工艺。
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公开(公告)号:CN109166818A
公开(公告)日:2019-01-08
申请号:CN201810838878.0
申请日:2018-07-27
Applicant: 北京工业大学
IPC: H01L21/768 , H01L21/67
Abstract: 一种用于熔融钎料填充硅通孔的方法涉及半导体器件制造技术领域。2.5D/3D集成与系统封装是现在与未来的研发方向。其中,TSV填充工艺被认为是实现三维集成技术的核心关键技术。目前硅通孔填充材料以铜为主,但是铜的成本高且易产生可靠性问题,需要寻找新的填充材料。钎料填充工艺克服了现有合金(以铜为主)填充硅通孔技术的不足,具有研究潜力。本发明提供了一种制作成本低廉、操作便利、填充速度快的钎料填充硅通孔新方法,即通过加热使金属融化,然后通过真空压差产生的毛细作用力将熔融的金属吸入到硅通孔中。这种方法具有极高的填充速度,方法简单,易于实施,同时可以填充多种类的钎料与晶圆。
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公开(公告)号:CN108941818A
公开(公告)日:2018-12-07
申请号:CN201811114880.X
申请日:2018-09-25
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 低温快速制备Cu6Sn5金属间化合物一维线性焊点的方法属于材料制备与连接领域,适用于制备Cu6Sn5金属间化合物一维线性焊点。采用一维线性铜棒作为焊盘,并将其用双面胶固定于印刷电路板上,在两个铜棒之间填入复合钎料焊膏,采用无铅焊接系统对焊缝处进行焊接,制备一维线性钎料焊点,经过磨抛,获得可用于进行电学,力学及热学可靠性研究的Cu6Sn5金属间化合物一维线性焊点。该方法能够保证低成本低温且快速制备Cu6Sn5金属间化合物一维线性焊点,能够缓解由于Sn基焊点的各向异性导致的失效问题,同时能够大大降低传统金属间化合物焊点的制备成本。
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