一种用于熔融钎料填充硅通孔的装置

    公开(公告)号:CN109166819A

    公开(公告)日:2019-01-08

    申请号:CN201810838959.0

    申请日:2018-07-27

    Abstract: 一种用于熔融钎料填充硅通孔的装置涉及半导体器件制造技术领域。硅通孔的填充技术是三维集成的核心关键技术。目前硅通孔填充材料以铜为主,但是存在成本与可靠性等众多问题,而钎料填充工艺不仅成本低廉且材料本身热膨胀系数适宜,具有研究潜力。本专利中,为低成本通孔填充工艺开发了一种新型熔融钎料填充设备,装置包括密封罐罐体、加热块、抽真空系统、冷却水循环系统、真空计等。采用加热炉加热密封罐体,可以控制加热钎料的温度与加热速度。除此之外,利用罐体上方密封盖与真空泵控制罐内压力大小。通过此设备可以完成8寸至12寸TSV硅晶圆钎料的填充,有效地解决了如何使用钎料高效填充TSV的问题,完善钎料填充TSV工艺。

    一种用于熔融钎料填充硅通孔的方法

    公开(公告)号:CN109166818A

    公开(公告)日:2019-01-08

    申请号:CN201810838878.0

    申请日:2018-07-27

    Abstract: 一种用于熔融钎料填充硅通孔的方法涉及半导体器件制造技术领域。2.5D/3D集成与系统封装是现在与未来的研发方向。其中,TSV填充工艺被认为是实现三维集成技术的核心关键技术。目前硅通孔填充材料以铜为主,但是铜的成本高且易产生可靠性问题,需要寻找新的填充材料。钎料填充工艺克服了现有合金(以铜为主)填充硅通孔技术的不足,具有研究潜力。本发明提供了一种制作成本低廉、操作便利、填充速度快的钎料填充硅通孔新方法,即通过加热使金属融化,然后通过真空压差产生的毛细作用力将熔融的金属吸入到硅通孔中。这种方法具有极高的填充速度,方法简单,易于实施,同时可以填充多种类的钎料与晶圆。

    一种TSV电镀铜填充效果的测试方法

    公开(公告)号:CN109470699A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811194876.9

    申请日:2018-10-15

    Abstract: 一种TSV电镀铜填充效果的测试方法属于材料制备与连接领域。包括步骤1:将化学机械抛光后的TSV晶圆样品切割取样,并将取自晶圆上不同区域的TSV样品置于坩埚中;步骤2:随后将坩埚放入管式炉中,并在管式炉中通入氩气作为保护气体;以10℃/min的升温速度将管式炉中的温度升至后保温;保温过程完成后,关闭管式炉加热装置,保持样品仍然在氩气保护下放置于管式炉的石英管中。打开管式炉保温炉盖,将石英管以及其中的TSV样品进行空气冷却。步骤3:当管式炉中的温度降低至室温后,解除石英管的密封状态,将石英管中的样品取出,在金相显微镜下观察。本发明分析周期短,有效方便、费用低,可以节约时间和成本。

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