公开(公告)号：CN105808839B

公开(公告)日：2019-03-22

申请号：CN201610125352.9

申请日：2016-03-04

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 侯立刚 ,  高灿 ,  赵未 ,  彭晓宏 ,  耿淑琴 ,  汪金辉

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明涉及一种电路路径的测试覆盖率分析方法，内容分为识别电路路径、提取电路路径、加入监测语句、进行二次前仿真、统计测试文件群覆盖率，识别电路路径、提取电路路径、加入监测语句、进行二次前仿真、统计测试文件群覆盖率依次进行，上述五个步骤构成测试设计的整体；本发明通过监测门级网表中相关路径门的变化，找出满足电路路径覆盖率较高的测试文件群进行验证，在验证基本无误的情况下，再进行完整的时序分析验证，减少二次错误概率，减少验证时间，从而大大提高了验证效率，减少了验证人员的工作量。

公开(公告)号：CN105808839A

公开(公告)日：2016-07-27

申请号：CN201610125352.9

申请日：2016-03-04

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 侯立刚 ,  高灿 ,  赵未 ,  彭晓宏 ,  耿淑琴 ,  汪金辉

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5081

Abstract: 本发明涉及一种电路路径的测试覆盖率分析方法，内容分为识别电路路径、提取电路路径、加入监测语句、进行二次前仿真、统计测试文件群覆盖率，识别电路路径、提取电路路径、加入监测语句、进行二次前仿真、统计测试文件群覆盖率依次进行，上述五个步骤构成测试设计的整体；本发明通过监测门级网表中相关路径门的变化，找出满足电路路径覆盖率较高的测试文件群进行验证，在验证基本无误的情况下，再进行完整的时序分析验证，减少二次错误概率，减少验证时间，从而大大提高了验证效率，减少了验证人员的工作量。