一种无损测量电子功能模块内部温度和热阻构成的方法及装置

    公开(公告)号:CN107490736B

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201710665603.7

    申请日:2017-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种无损测量电子功能模块内部温度和热阻构成的方法及装置,涉及功率电子器件检测技术领域。装置包括热阻测试仪,加热和测试探头和被测模块。将被测模块放置在恒温平台上,加热探头紧贴于被测模块上表面并保持良好接触,加热探头在工作电源提供的电压与电流下工作时产生的热量经过被测模块传递到恒温平台,然后测量探头在冷却过程中电学温敏参数的变化,得到探头经被测模块到恒温平台的热阻构成,进而计算得到电子功能模块的热阻构成。本发明实现了无损检测电子功能模块的热阻构成并根据表面温度推算其内部温度,填补了相关技术的空缺。

    一种无损测量电子功能模块内部温度和热阻构成的方法及装置

    公开(公告)号:CN107490736A

    公开(公告)日:2017-12-19

    申请号:CN201710665603.7

    申请日:2017-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种无损测量电子功能模块内部温度和热阻构成的方法及装置,涉及功率电子器件检测技术领域。装置包括热阻测试仪,加热和测试探头和被测模块。将被测模块放置在恒温平台上,加热探头紧贴于被测模块上表面并保持良好接触,加热探头在工作电源提供的电压与电流下工作时产生的热量经过被测模块传递到恒温平台,然后测量探头在冷却过程中电学温敏参数的变化,得到探头经被测模块到恒温平台的热阻构成,进而计算得到电子功能模块的热阻构成。本发明实现了无损检测电子功能模块的热阻构成并根据表面温度推算其内部温度,填补了相关技术的空缺。

    一种无损测量行波管热阻的方法及装置

    公开(公告)号:CN105241921B

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201510753767.6

    申请日:2015-11-07

    Abstract: 一种无损测量行波管热阻构成的方法及装置,涉及微波真空电子器件检测技术领域。所述装置包括:热阻测试仪、测试探头和被测行波管。所述方法包括:将测试探头放入被测行波管的螺旋线内,测试二极管在工作电源提供的电压与电流下工作时产生的热量经传热触头传递到螺旋线,并经陶瓷夹持杆、管壳散热到周围环境,采集卡采集到加热过程中测试二极管的电学温敏参数的变化,并经计算得到被测行波管的散热通道的热阻构成。本发明实现了非破坏性地测量行波管的热阻构成并定点研究其散热情况,检测散热能力,测量无损伤、周期短、精度高、成本低,较现有技术有着明显的突破性。

    一种检测行波管收集极散热特性的方法和装置

    公开(公告)号:CN107367655A

    公开(公告)日:2017-11-21

    申请号:CN201710665581.4

    申请日:2017-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种检测行波管收集极散热特性的方法和装置,属于微波真空电子器件检测技术领域。装置包括热阻测试仪、加热探头、测试探头和被测行波管收集极。将测试探头放在被测行波管收集极两侧的对称位置,加热探头放置在行波管收集极上方,在工作电源提供的电压与电流下工作时产生的热量经传热触头传递到行波管收集极,然后经收集极管壳散热到周围环境,两侧测试探头的电学温敏参数变化经采集卡采集,得到两侧测试探头温度上升曲线对比,并经计算得到行波管收集极整体热阻和两侧散热性能差异,从而得出行波管收集极焊接的好坏。本发明实现了非破坏性地检测行波管收集极的散热特性,测量无损伤、周期短、精度高、成本低。

    一种无损测量行波管热阻的方法及装置

    公开(公告)号:CN105241921A

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201510753767.6

    申请日:2015-11-07

    Abstract: 一种无损测量行波管热阻构成的方法及装置,涉及微波真空电子器件检测技术领域。所述装置包括:热阻测试仪、测试探头和被测行波管。所述方法包括:将测试探头放入被测行波管的螺旋线内,测试二极管在工作电源提供的电压与电流下工作时产生的热量经传热触头传递到螺旋线,并经陶瓷夹持杆、管壳散热到周围环境,采集卡采集到加热过程中测试二极管的电学温敏参数的变化,并经计算得到被测行波管的散热通道的热阻构成。本发明实现了非破坏性地测量行波管的热阻构成并定点研究其散热情况,检测散热能力,测量无损伤、周期短、精度高、成本低,较现有技术有着明显的突破性。

    一种检测行波管收集极散热特性的方法和装置

    公开(公告)号:CN107367655B

    公开(公告)日:2020-01-10

    申请号:CN201710665581.4

    申请日:2017-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种检测行波管收集极散热特性的方法和装置,属于微波真空电子器件检测技术领域。装置包括热阻测试仪、加热探头、测试探头和被测行波管收集极。将测试探头放在被测行波管收集极两侧的对称位置,加热探头放置在行波管收集极上方,在工作电源提供的电压与电流下工作时产生的热量经传热触头传递到行波管收集极,然后经收集极管壳散热到周围环境,两侧测试探头的电学温敏参数变化经采集卡采集,得到两侧测试探头温度上升曲线对比,并经计算得到行波管收集极整体热阻和两侧散热性能差异,从而得出行波管收集极焊接的好坏。本发明实现了非破坏性地检测行波管收集极的散热特性,测量无损伤、周期短、精度高、成本低。

    一种无损测量行波管热阻的装置

    公开(公告)号:CN205139061U

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201520884537.9

    申请日:2015-11-07

    Abstract: 一种无损测量行波管热阻构成的装置,涉及微波真空电子器件检测技术领域。所述装置包括:热阻测试仪、测试探头和被测行波管。工作电源经工作电源开关控制,为被测器件提供工作电压电流,测试电流源为被测器件提供测试电流,采集卡采集被测器件的电学温敏参数,计算机处理采集到的电学温敏参数;所述测试探头包括测试二极管、传热触头和两根移动杆;本装置实现了非破坏性地测量行波管的热阻构成并定点研究其散热情况,检测散热能力,测量无损伤、周期短、精度高、成本低,较现有技术有着明显的突破性。

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