-
公开(公告)号：CN116754486A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310930579.0
申请日：2023-07-27
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明公开了一种用于光致发光谱显微光路模块的推拉切换结构，包括定块、动块和推拉机构，其中，动块为磁性体，其一端与半透半反镜的镜架连接，另一端连接推拉机构，在推拉机构的带动下推拉半透半反镜的镜架；定块用于定位半透半反镜，其为一个活塞装置，包括腔体及可在腔体内往复运动的活塞本体，在腔体面向动块的外壁面设有强磁铁；活塞本体为非磁性体，在活塞本体面向动块的一面设有弱磁铁；在腔体面向动块的前端面开有窗口，弱磁铁可伸出窗口外，而在腔体的后端面开有空气孔。该推拉切换结构可以极大地降低推拉过程中的震动，有利于光路精度的长期保持，同时可降低推拉切换结构对外部空间的占用，使整个光致发光谱系统更加紧凑和便利。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119290825B
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411833261.1
申请日：2024-12-13
Applicant: 北京大学
IPC: G01N21/63
Abstract: 本发明公开了一种半导体材料中施主束缚激子双电子跃迁速率的测量方法，属于半导体材料的测量表征领域。该测量方法包括：1、由稳态光致发光光谱测量各温度下半导体材料中施主束缚激子峰的峰强#imgabs0#和对应双电子跃迁峰的峰强#imgabs1#；2、由时间分辨光致发光光谱测量各温度下施主束缚激子峰的寿命#imgabs2#；3、由#imgabs3#推得施主束缚激子峰的量子效率#imgabs4#，结合#imgabs5#推得施主束缚激子的辐射复合寿命#imgabs6#；4、由双电子跃迁峰和施主束缚激子峰的相对强度除以施主束缚激子辐射复合寿命,得各温度下施主束缚激子的双电子跃迁速率#imgabs7#。本发明解决了双电子跃迁速率难以测量的问题，能够快速准确获得双电子跃迁速率随温度的变化规律，对研究施主束缚激子及其双电子跃迁物理性质具有重要价值。
-
公开(公告)号：CN119290825A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411833261.1
申请日：2024-12-13
Applicant: 北京大学
IPC: G01N21/63
Abstract: 本发明公开了一种半导体材料中施主束缚激子双电子跃迁速率的测量方法，属于半导体材料的测量表征领域。该测量方法包括：1、由稳态光致发光光谱测量各温度下半导体材料中施主束缚激子峰的峰强#imgabs0#和对应双电子跃迁峰的峰强#imgabs1#；2、由时间分辨光致发光光谱测量各温度下施主束缚激子峰的寿命#imgabs2#；3、由#imgabs3#推得施主束缚激子峰的量子效率#imgabs4#，结合#imgabs5#推得施主束缚激子的辐射复合寿命#imgabs6#；4、由双电子跃迁峰和施主束缚激子峰的相对强度除以施主束缚激子辐射复合寿命,得各温度下施主束缚激子的双电子跃迁速率#imgabs7#。本发明解决了双电子跃迁速率难以测量的问题，能够快速准确获得双电子跃迁速率随温度的变化规律，对研究施主束缚激子及其双电子跃迁物理性质具有重要价值。
-
公开(公告)号：CN116879171A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202310931355.1
申请日：2023-07-27
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明公开了一种用于测量深紫外光致发光谱的显微光路耦合系统和方法，包括：由两个或更多个紫外透镜组成的光束缩束模组，设置在激光光路上，用于将深紫外激光光束变细；一个深紫外窄条状45°反射镜，位于显微光路旁侧，利用其边缘将激光反射进入显微光路；一个反射式物镜，将窄条状45°反射镜反射过来的激光汇聚到样品上，并收集样品的荧光信号，送入收集光路进行探测。本发明可用于深紫外光致发光光谱的显微光路耦合，实现短至200nm的深紫外光致发光谱的显微测量，并最大限度地降低样品荧光信号的损失，比起非显微的深紫外光致发光测量系统，有着激发功率密度更高、荧光信号收集效率更高、空间分辨能力更高的优点。
-
公开(公告)号：CN220367204U
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202322002037.5
申请日：2023-07-27
Applicant: 北京大学
Abstract: 本实用新型公开了一种用于测量深紫外光致发光谱的显微光路耦合系统，包括：由两个或更多个紫外透镜组成的光束缩束模组，设置在激光光路上，用于将深紫外激光光束变细；一个深紫外窄条状45°反射镜，位于显微光路旁侧，利用其边缘将激光反射进入显微光路；一个反射式物镜，将窄条状45°反射镜反射过来的激光汇聚到样品上，并收集样品的荧光信号，送入收集光路进行探测。本实用新型可用于深紫外光致发光光谱的显微光路耦合，实现短至200nm的深紫外光致发光谱的显微测量，并最大限度地降低样品荧光信号的损失，比起非显微的深紫外光致发光测量系统，有着激发功率密度更高、荧光信号收集效率更高、空间分辨能力更高的优点。
-
公开(公告)号：CN220380989U
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202321992321.5
申请日：2023-07-27
Applicant: 北京大学
Abstract: 本实用新型公开了一种用于光致发光谱显微光路模块的推拉切换结构，包括用于定位半透半反镜的定块，用于带动半透半反镜镜架的动块，以及推拉机构；其中，动块为磁性体，一端与半透半反镜镜架连接，另一端连接推拉机构；定块为一个活塞装置，包括腔体及可在腔体内往复运动的活塞本体，在腔体面向动块的外壁面设有强磁铁；活塞本体为非磁性体，在活塞本体面向动块的一面设有弱磁铁；在腔体面向动块的前端面开有窗口，弱磁铁可伸出窗口外，而在腔体的后端面开有空气孔。该推拉切换结构可以极大地降低推拉过程中的震动，有利于光路精度的长期保持，同时可降低推拉切换结构对外部空间的占用，使整个光致发光谱系统更加紧凑和便利。
-
-
-
-
-
Search Results
6
records
(took 0.02 seconds)
