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公开(公告)号:CN115078979A
公开(公告)日:2022-09-20
申请号:CN202210462996.2
申请日:2022-04-28
Applicant: 北京交通大学
IPC: G01R31/327
Abstract: 本发明涉及一种二元二位继电器检测电路及检测方法。本发明提供的检测电路在继电器的轨道线圈端施加一个50Hz的干扰电压,通过调压器改变此干扰电压的幅值,观察并记录继电器工作状态,检测继电器误动作时,判断继电器误动作的干扰来源及干扰临界数值。该检测电路和检测方法能够分析继电器的可靠性和选择性,避免事故发生。