一种二元二位继电器检测电路及检测方法

    公开(公告)号:CN115078979A

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202210462996.2

    申请日:2022-04-28

    Abstract: 本发明涉及一种二元二位继电器检测电路及检测方法。本发明提供的检测电路在继电器的轨道线圈端施加一个50Hz的干扰电压,通过调压器改变此干扰电压的幅值,观察并记录继电器工作状态,检测继电器误动作时,判断继电器误动作的干扰来源及干扰临界数值。该检测电路和检测方法能够分析继电器的可靠性和选择性,避免事故发生。

Patent Agency Ranking