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公开(公告)号：CN107918741A
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201711186543.7
申请日：2017-11-24
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F21/71
Abstract: 本发明提供一种实现物理不可克隆功能(PUF)的增强型电路结构，用以实现物理不可克隆功能。利用在芯片划片过程中，划片刀通过划片槽中心线存在偏差的原理，使放置在划片槽不同位置的熔丝(fuse)，被概率性的划断。由于在划片槽中有连接fuse的电路，使被划断和没被划断的fuse中传递的信号呈现不同的信号状态，通过信号处理单元识别这些状态，并输出fuse PUF的数据结果。相对于已有的普通实现物理不可克隆功能的电路结构，安全性更高，不易窃取和克隆PUF数据。
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