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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108535548B
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201810126483.8
申请日：2018-02-08
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R27/14
Abstract: 本发明提出了一种高值电阻测量方法，所述方法包括：建立充电响应方程；采集不同时刻所对应的实际电压；根据所述充电响应方程以及所述不同时刻所对应的实际电压获得响应时间常数；根据所述响应时间常数和所述充电响应方程获得瞬间电压；根据所述充电响应方程、不同时刻所对应实际电压、响应时间常数和瞬间电压获得被测电阻阻值。本发明还提出了一种高值电阻测量装置、电子设备和计算机程序产品。本发明通过准确计算测量响应时间常数，并根据所述响应时间常数完成高阻值测量的过程。使得高值电阻测试效率大大提高，同时提高了检测精度和可靠性。
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公开(公告)号：CN102520308A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201210001720.0
申请日：2012-01-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 分离式电缆测试仪，所述电缆测试仪适用于被测电缆两端远距离相隔的场合，其特征在于，包括相互分离的主控装置和从控装置，所述主控装置和从控装置均设置有电缆插接口，所述电缆插接口用于被测电缆的N芯端头插接，所述被测电缆为N芯的1对1对应电缆；所述主控装置设置有主控N选1开关，所述主控N选1开关的固定端通过模拟/数字转换器连接主控装置中的主MCU，所述主控N选1开关的N位活动端通过N个主控继电器电路各自连接所述主MCU；所述从控装置设置有从控N选1开关，所述从控N选1开关的固定端通过模拟/数字转换器连接主控装置中的从MCU，所述从控N选1开关的N位活动端通过N个从控继电器电路各自连接所述从MCU。
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公开(公告)号：CN117420083A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311743392.6
申请日：2023-12-19
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京东方计量测试研究所
Abstract: 一种等离子体侵蚀痕量产物在线监测装置及方法，涉及等离子体光谱测试技术领域，解决的技术问题为“如何进行等离子体推进器工部件侵蚀痕量产物监测”，该装置包括金属屏蔽罩，以及设置于所述金属屏蔽罩内部的第一凸透镜、第一反射镜、分光棱镜、第二凸透镜、光栅以及第二反射镜，以及设置于所述金属屏蔽罩外部的光电倍增管和分析处理设备；所述金属屏蔽罩侧壁上固定有入射光狭缝和出射光狭缝，所述出射光狭缝与所述光电倍增管连接，所述光电倍增管与所述分析处理设备连接；该装置及方法设计了光谱仪设备对痕量产物谱线光强进行监测，建立痕量物质辐射谱线强度和光强信号波动关系，以获得痕量产物绝对密度，可靠性高，监测灵敏。
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公开(公告)号：CN117420083B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311743392.6
申请日：2023-12-19
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京东方计量测试研究所
Abstract: 一种等离子体侵蚀痕量产物在线监测装置及方法，涉及等离子体光谱测试技术领域，解决的技术问题为“如何进行等离子体推进器工部件侵蚀痕量产物监测”，该装置包括金属屏蔽罩，以及设置于所述金属屏蔽罩内部的第一凸透镜、第一反射镜、分光棱镜、第二凸透镜、光栅以及第二反射镜，以及设置于所述金属屏蔽罩外部的光电倍增管和分析处理设备；所述金属屏蔽罩侧壁上固定有入射光狭缝和出射光狭缝，所述出射光狭缝与所述光电倍增管连接，所述光电倍增管与所述分析处理设备连接；该装置及方法设计了光谱仪设备对痕量产物谱线光强进行监测，建立痕量物质辐射谱线强度和光强信号波动关系，以获得痕量产物绝对密度，可靠性高，监测灵敏。
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公开(公告)号：CN108535548A
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201810126483.8
申请日：2018-02-08
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R27/14
Abstract: 本发明提出了一种高值电阻测量方法，所述方法包括：建立充电响应方程；采集不同时刻所对应的实际电压；根据所述充电响应方程以及所述不同时刻所对应的实际电压获得响应时间常数；根据所述响应时间常数和所述充电响应方程获得瞬间电压；根据所述充电响应方程、不同时刻所对应实际电压、响应时间常数和瞬间电压获得被测电阻阻值。本发明还提出了一种高值电阻测量装置、电子设备和计算机程序产品。本发明通过准确计算测量响应时间常数，并根据所述响应时间常数完成高阻值测量的过程。使得高值电阻测试效率大大提高，同时提高了检测精度和可靠性。
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