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公开(公告)号：CN105193378A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510340405.4
申请日：2015-06-18
Applicant: 佳能株式会社
IPC: A61B3/14
CPC classification number: G01B9/02011 , A61B3/102 , A61B5/0066 , G01B9/02058 , G01B9/02091 , G01B2290/70
Abstract: 本发明涉及成像装置。提供一种被配置为成像要被检查的对象的成像装置，该装置包括：被配置为将通过组合返回光和基准光获得的光分离成具有不同的偏振分量的多个光的分离单元；和被配置为检测多个光的检测单元。该装置还包括：被配置为校正由设置在测量光的光路或基准光的光路上的光学部件产生的不同的偏振分量之间的相位差的校正单元。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102290308A
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN201110158507.6
申请日：2011-06-14
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: H01J1/3046 , H01J9/025 , H01J29/04 , H01J31/127 , H01J2201/30423 , H01J2329/0423
Abstract: 本发明涉及电子发射器件、使用它的图像显示装置及它们的制造方法。电子发射器件被配置，使得从高度方向的中间部分到下端的台阶形状形成部件的侧面的下部的倾斜角θ2大于从凹形部分的下边缘到高度方向的中间部分的台阶形状形成部件的侧面的上部的倾斜角θ1。并且，作为阴极的下部的部分的下阴极部分的电阻大于作为阴极的上部的部分的上阴极部分的电阻。
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公开(公告)号：CN107567305B
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201680025394.3
申请日：2016-03-30
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 一种SS‑OCT设备，包括时钟发生器，其被配置作为包括从光源射出的光的一部分穿过的光路的干涉计，以生成转换器对所述模拟信号进行采样所使用的时钟，其中所述光路被分割成第一光路以及相对于所述第一光路具有光路长度差的第二光路；断层图像获得单元，其被配置为，通过使用根据所生成的时钟从所述转换器所采样的模拟信号转换而来的数字信号来获得眼底的断层图像；以及扫描单元，其被配置为在所述眼底上以在空气中等于或大于47度的扫描角度来扫描所述照射光。所述断层图像获得单元被配置为获得深度范围在眼球内为等于或大于4.0mm的距离处的所述眼底的断层图像。
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公开(公告)号：CN101887833A
公开(公告)日：2010-11-17
申请号：CN201010178057.2
申请日：2010-05-11
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: H01J9/025 , H01J1/3046 , H01J3/022 , H01J31/127 , H01J2329/0423 , H01J2329/4613 , H01J2329/4634
Abstract: 本申请涉及电子束装置和使用它的图像显示装置。通过适当地维持栅极(5)的膜厚h与从绝缘部件(3)的外表面到凹部(7)的内表面的距离L之间的关系，抑制由操作电子发射器件时产生的库仑力导致的栅极(5)的变形。据此，在具有叠层型电子发射器件的电子束装置中，防止栅极的变形以减少电子发射特性的变化，由此防止元件被破坏。
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公开(公告)号：CN107567305A
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201680025394.3
申请日：2016-03-30
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 一种SS-OCT设备，包括时钟发生器，其被配置作为包括从光源射出的光的一部分穿过的光路的干涉计，以生成转换器对所述模拟信号进行采样所使用的时钟，其中所述光路被分割成第一光路以及相对于所述第一光路具有光路长度差的第二光路；断层图像获得单元，其被配置为，通过使用根据所生成的时钟从所述转换器所采样的模拟信号转换而来的数字信号来获得眼底的断层图像；以及扫描单元，其被配置为在所述眼底上以在空气中等于或大于47度的扫描角度来扫描所述照射光。所述断层图像获得单元被配置为获得深度范围在眼球内为等于或大于4.0mm的距离处的所述眼底的断层图像。
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公开(公告)号：CN105193378B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201510340405.4
申请日：2015-06-18
Applicant: 佳能株式会社
IPC: A61B3/14
CPC classification number: G01B9/02011 , A61B3/102 , A61B5/0066 , G01B9/02058 , G01B9/02091 , G01B2290/70
Abstract: 本发明涉及成像装置。提供一种被配置为成像要被检查的对象的成像装置，该装置包括：被配置为将通过组合返回光和基准光获得的光分离成具有不同的偏振分量的多个光的分离单元；和被配置为检测多个光的检测单元。该装置还包括：被配置为校正由设置在测量光的光路或基准光的光路上的光学部件产生的不同的偏振分量之间的相位差的校正单元。
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